专用扫描透射显微镜HD-2700，配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪，显著提高了扫描透射电子显微镜的性能，更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差，使其与标准型号显微镜相比，分辨率提高了1.5倍，同时，探针电流提高了10倍。

最近，该显微镜还配备了高分辨率镜头和冷场发射电子枪，进一步提高了图像分辨率和电子束能量分辨率。同时，该型号系列还增加了一款不带球差校正的主机配置，可以以后加配球差校正进行升级。

特点与优势

高分辨率扫描透射电子显微镜成像

HAADF-STEM图像0.136 nm，FFT图像0.105 nm(高分辨率镜头*)

HAADF-STEM图像0.144 nm(标准镜头)

明场扫描透射电子显微镜图像0.204 nm(w/o球差校正仪)

高速，高灵敏度能谱分析：探针电流×10倍

元素面分布更迅速及时

低浓度元素检测

操作简化

自动图像对中功能

从样品制备到观察分析实现无缝连接

样品杆与日立聚焦离子束系统兼容

配有各种选购件可执行各种评估和分析操作

同时获取和显示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布*和DF/EELS面分布*图像。

低剂量功能*(使样品的损伤和污染程度降至)

高精度放大校准和测量*

实时衍射单元*(同时观察暗场-扫描透射电子显微镜图像和衍射图案)

采用三维微型柱旋转样品杆(360度旋转)*，具有自动倾斜图像获取功能。

ELV-3000即时元素面分布系统*(同时获取暗场-扫描透射电子显微镜图像)