检测镀层机器设备
产品介绍
ACZET系列 X射线荧光分析测厚仪能提供:镀层厚度和元素分析功能,不但性能*,而且*。分析镀层厚度和元素成份同时进行,只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果,多层镀层的厚度测量也一样能胜任。轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性,是五金电镀,首饰,端子等行业的选。
ACZET系列X射线荧光分析测厚仪特点:
ACZET系列X射线镀层测厚仪是基于X射线荧光技术,该技术已经被证实并且得到广泛应用,可以在无须样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中的22到U92,并且具有不同大小的样品舱。
ACZET系列镀层测厚仪的优势
- 操作简单,只需要很少的培训就可以操作
- 检测速度快,无损检测只需几秒钟
- 可测试单层及多层镀层的厚度
- 可以测试电镀液中金属离子含量
- 对测试样品*无损
- 市场上性价比
- 自动化批量检测:可选配XYZ全自动工作台
- 应用行业广泛:电子,珠宝,金属加工等等
操作软件
X-Master是一款具备庞大应用功能的软件,并且我们更多新的应用正不断地加入更多新的应用。
可选软件模块
- µ-Master 用于镀层厚度测量
- Element-Master 用于材料分析
- Report-Master 用于生成报告文件
- Data-Master 用于数据库管理
- %-Master 用于材料分析(珠宝)
- Liquid-Master 用于电镀液分析
选配置
- 自动的多准直器系统
- 软件控制XYZ轴实现自动化批量检测
Cube系列技术特点
一、功能
1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度,测量方法满足GB/T 16921-2005标准(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987)。
- 镀层元素范围:钛~铀,包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。
- 镀层层数:多至5层。
- 测量点尺寸:圆形测量点,直径约0.2-0.8毫米。
- 测量时间:通常35秒-180秒。
- 样品尺寸:330 x 200 x 170 mm (长x宽x)。
- 测量误差:通常小于5%,视样品具体情况而定。
- 可测厚度范围:通常0.01微米到30微米,视样品组成和镀层结构而定。
- 同时定量测量8个元素。
- 定性鉴定材料达20个元素。
- 自动测量功能:编程测量,自定测量;修正测量功能:底材修正,已知样品修正
定性分析功能:光谱表示,光谱比较;定量分析功能:合金成份分析
数据统计功能:x管理图,x-R管理图,直方柱图。
二、特点
- 采用基本参数法校准,可在无标样情况下生成校准曲线以完成测量。
- X射线采用从上至下的照射方式,即使是表面低不一的样品也可以正确测量。反之,如果是从下*的照射方式,遇到表面凹凸的样品,无法调整Z轴距离,导致测量光程的变化,引起测量的误差。
- 具有多种测试功能,仅需要一台仪器,即可解决多种测试
- 相比其他分析设备,投入成本低
- 仪器操作简单,便可获得很好的准确性和重现性
- 综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析
镀层分析:可分析四层以上厚度,的FP分析软件,真正做到无标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.*超越其他品牌的所谓FP软件.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
Item 项目 | Part & Ref Number 部件号 | Commodity & Description 货物及描述 |
1 | Cube X射线镀层测厚仪 | - X射线光管 微聚焦,性能,钨靶,焦斑尺寸0.2-0.8mm
- 电压 50千伏(1.2毫安)可根据软件控制优化
- 探测器 分辨气体正比计数探测器
- 准直器 单一固定准直器直径0.3mm
- 样品仓 330 x 200 x 170 mm
- 样品台 手动Z轴样品台
- 电源 230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W
- 仪器尺寸 350 x 420 x 310 mm
- 仪器重量 27Kg
- Windows 10操作系统和计算机主机
- 19寸液晶显示器
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