镀层分析机器设备
Cube系列技术参数
一、技术参数
采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T 16921-2005标准（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）
包含常见的金Au、镍Ni、铜Cu、银Ag、锡Sn、锌Zn、铬Cr、钯Pd等
- 测量方式：由上而下
- 探 测 器：分辨空气正比计数器（选配：Si-Pin，SDD)
- X射线装置：W靶
- 电 压：50kV（1.2mA）
- 放 大倍数：光学40X,彩色CCD，手动变焦。
- 准 直 器：标配0.3mm，可选配0.5mm或4位多准直器
- 镀层层数：多至5层（四层镀层、一层底材）
- 操作平台：标配：手动/自动（选配）
- 测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.2-0.8毫米
- 测量时间：通常35秒-180秒
- 样品尺寸：330 x 200 x 170 mm (长x宽x)
- 仪器外观尺寸：350 x 450 x 310 mm (长x宽x)
- 测量误差：通常≤5%，视样品具体情况而定。
- 可测厚度范围：通常0.0001um到30um，视样品组成和镀层结构而定。
- 同时定量测量8个元素
- 定性鉴定材料达20个元素
- 工 作 电 压：230V, 50/60Hz，120W
- 重 量：27kg
20、自动测量功能：编程测量，自定测量；
修正测量功能：底材修正，已知样品修正
定性分析功能：光谱表示，光谱比较；
定量分析功能：合金成份分析
数据统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图。
二、特点
- 采用基本参数法校准，可在无标样情况下生成校准曲线以完成测量。
- X射线采用从上至下的照射方式，即使是表面低不一的样品也可以正确测量。反之，如果是从下*的照射方式，遇到表面凹凸的样品，无法调整Z轴距离，导致测量光程的变化，引起测量的误差。
- 具有多种测试功能，仅需要一台仪器，即可解决多种测试
- 相比其他分析设备，投入成本低
- 仪器操作简单，便可获得很好的准确性和重现性
- 综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析
镀层分析:可分析四层以上厚度,的FP分析软件,真正做到无标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.*超越其他品牌的所谓FP软件.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
售后服务
- 仪器保修: 仪器保修期为自安装验收合格之日起24个月或发货后27个月，先到者为准。保修期内，由于非人为或不可抗力因素，造成仪器故障及损坏，安捷特将无偿负责解决(消耗品除外)。如发现仪器有技术问题或故障，客户可通过安捷特售后服务寻求支持。安捷特通常将在4个工作小时内给予实质性响应。
- 终身维修服务: 保修期后，安捷特将继续免费提供仪器技术咨询和支持，有偿提供维修服务，有偿供应备品备件。
- 技术交流：安捷特将按计划对用户实施回访，解答用户技术问题。并不定期举办行业用户交流会，为用户提供交流平台；
- 进阶培训：安捷特应用中心会举办相关产品的进阶培训，具体情况可咨询安捷特代表。
镀层分析机器设备
