奥林巴斯​超声波探伤仪相控阵探头3.5L64-IWP1 5L64-IWP1

优势特性
● 只需少量耦合剂，即可获得优质耦合效果。
● 经过简便的设置，可获得高效C扫描。
● 25毫米的水延迟块，可以对厚度达50毫米的
复合材料进行检测。
● 达51 2毫米宽泛的声束覆盖范围。
● 衰减性极低的透明轮材料。

典型应用
IWP1探头
复合材料应用
● 复合材料和其它表面平滑材料的零度检测。
● 可依照飞机制造商现有的程序，进行使用

 相控阵技术的介绍
相控阵超声检测区别于其它技术的特性是可以通过计算机控制对多晶片探头中的单个晶片进行激励（波幅和延迟）。通过软件对多个压电复合材料晶片的激励可以生成一条聚焦的超声声束，方法是在发射声束的过程中动态更改声束的参数，如：角度、焦距和焦点大小。要通过相位上的积极干涉生成一条声束，就要以极小的时间差，分别触发探头的多个活动晶片。同理，从所期望的焦点反射的回波会以可以计算获得的时间偏移触碰到探头的不同晶片。在将每个晶片接收到的回波信号汇总之前，需对这些回波信号进行时间偏移计算。汇总的结果是生成一个A扫描，这个A扫描会突出显示来自所需焦点的响应信号，而弱化来自被测样件其它部位的信号。

使用软件控制声束角度、焦距和焦点大小

要生成一条超声声束，就需要在差别极小的不同时间对探
头的不同晶片进行脉冲激励。通过控制探头晶片之间的时间延迟，可以生成具有不同角度、不同焦距及不同焦点大小的声束。从所期望的焦点反射的回波会以可以计算获得的时间偏移触碰到探头的不同晶片。在将每个晶片接收到的回波信号汇总之前，需对这些回波信号进行时间偏移计算。信号汇总的结果是生成一个A扫描。这个A扫描会突出显示来自所期望焦点的响应信号，而弱化来自材料其它部位的各种回波。

使用以电子方式控制的单个小巧的多晶探头可以完成多角度检测

常规UT检测需要使用多种不同的探头。而一个单个相控阵（PA）探头则可以根据应用的要求进行配置，以序列方式产生不同的角度和焦点。
 无需移动部件而完成高速扫查
虽然相控阵技术要对来自多晶片探头的许多信号进行处理，但是我们要知道：其所得到的信号是一个标准的射频（RF）信号（或A扫描），这个信号与任何使用固定角度探头的常规系统得到的信号相同。这个信号与来自常规UT系统的任何A扫描一样，可被评估、处理、过滤并生成图像。基于A扫描创建的B扫描、 C扫描和D扫描，也与常规系统生成的这类图像一样。它们之间的区别在于相控阵系统可以使用单个探头完成多角度检测。多路传输还可以在探头不动的情况下完成扫查：聚焦声束
由一个装有许多晶片的长相控阵探头的几个晶片创建。然后声束被移动（或称多路传输）到其它晶片，以在不移动探头的情况下，沿扫查轴方向对工件进行高速扫查。这样探头就可以不同的检测角度进行一次以上的扫查。这个原理可被应用到使用线性相控阵探头进行的平面工件检测，也可被应用到使用圆形相控阵探头进行的管材和棒材检测 。

奥林巴斯​超声波探伤仪相控阵探头3.5L64-IWP1 5L64-IWP1