韩国XRF-2000金属镀层测厚仪

X射线或粒子射线经物质照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析

韩国MicroPioneerXRF-2020测厚仪

标牌：Micro Pioneer  微先锋

货号：XRF-2020H，XRF-2020L,XRF-PCB三款

XRF-2020L型：测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg

应用于电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器半导体等行业

可测试各类电镀层，金,银,镍,铜,锡,锌,铬,锌镍合金等

XRF-2020镀层测厚仪：可测单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等

不限底材。

如单镀层铜上镀银，铜上镀镍，铜上镀锌，铜上镀锡，铁上镀镍等

双镀层如铜上镀镍镀金，铁上镀铜镀镍，铜上镀镍镀银等，不限底材

多镀层如：ABS上镀铜镀镍镀铬，铁上镀铜镀镍镀金等，不限底材

合金镀层如：铁上镀锌镍等。不限底材

XRF-2020测厚仪

L型测量样品高3cm内

H型测量样品高10cm内

长宽均为55cm

 韩国XRF-2000金属镀层测厚仪：型号已升级至XRF-2020