XRF-2020测厚仪X-RAY电镀膜厚仪

X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变

根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。

理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。

XRF-2020镀层测厚仪：

别称：X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、X-RAY膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。

功能：精密测量金属电镀层的厚度。

应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U)。

仪器特点:

全自动台面，自动雷射对焦，多点自动测量

功能及应用：

检测电子电镀,五金电镀,端子连接器,线路板,半导体等膜厚

可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限底材。

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等​合金镀层：

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

仪器测量精度：

表层：±5%以内，第二层：±10%以内，第三层：±15%以内

XRF-2020镀层测厚仪规格型号如下图

原产地：韩国

品牌：Micropioneer微先锋

型号：XRF-2020

韩国MiceopioneerXRF-2020测厚仪型号规格

XRF-2020L型：测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg

三款机型均为全自动样品台自动雷射对焦,多点自动测量

适应于各类五金电镀,电子连接器端子等。

可测金,镍,铜,锌,锡,银,钯,铑,铂,锌镍合金等镀层。

应用广泛，适应电镀生产企业，产品来料检测等。

XRF-2020测厚仪X-RAY电镀膜厚仪