JW-BK112型 比表面及孔径分析仪
经*技术鉴定，控制精度和测试精度达到*水平，已在国内普遍应用。
详细介绍
分析方法
比表面测定：BET（单点、多点）比表面，Langmuir比表面，外表面测定；
BJH孔径分布测定：总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布；
微孔常规分析：微孔总孔体积、总内表面积（t-图、D&R、MP等）
真密度测试
技术参数
测试方法：低温真空氮吸附容量法，静态容量法
测试气体：高纯氮气，也可用氪、氦、二氧化碳等其他气体
极限真空：4×10-2Pa （ 3×10-4 Torr）
分压范围：4×10-6 – 0.995
控制精度：测试压力点zui小控制间隔可小于0.1 KPa （0.75 Torr） ,可测上千个点。
测量范围：0.01 （M2/g）―无规定上限（比表面），0.35 - 500 nm（孔径）
测试精度：重复性误差±1%
压力测量：采用压力分段测量，进口压力传感器显著提高P/P0点下测试精度，0-1000 torr（0-133kpa）
样品数量：同时进行1个样品分析和2个样品脱气处理
液位控制：确保液氮面与样品管位置保持*，*消除因死体积变化导致的误差，连续10h不加液氮
测试效率：多点BET比表面每样平均20min
预 处 理：两样品同位处理，温度50-400℃，±1℃
数据采集：高精度双向数字采集模块，zui强的灵活性完成zui全面的数据采集，误差小，抗*力强
数据处理：标准的windows窗口界面，易理解、学习、操作，丰富的比表面和孔分析模型，图像分辨率高，易于维护，兼顾到系统后期扩展
质量认证：CE认证、中国计量研究院认证、中国*检测报告、新产品证书、GB/T 19001-2008质量管理体系认证证书
仪器特点
1、国产比表面积及孔径分析仪*通过*技术鉴定产品，附产品鉴定证书
2、德国氦质谱检漏仪检测真空系统，确保每台仪器*的高真空
3、自主知识产权的抽气与充气速度精密控制装置，保证测试点高达1000多点；
4、多途径液氮面控制校正技术，确保样品在冷阱中的深度及环境*,消除因死体积变化导致的误差
5、具有独立，不易损坏的不锈钢杜瓦瓶，安全可靠，保温效果
6、无需氦气降低测试成本（一瓶氦气2000元）
7、完善的标准等温线数据库和规范的分析方法，BJH、t-Plot、MP、D-R微孔常规测试技术国内
8、可编程控制电路，高精度双向数字采集模块，测试全程自动化、智能化，长时间运行可以无人职守
9、可将分析结果实现叠加对比分析
