光谱椭偏仪(PH-SE型)针对太阳能电池应用，可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层（二层或多层）减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析也非常出色。 针对太阳能电池应用的光谱椭偏仪基于的椭偏光路设计，高灵敏度探测单元和光谱椭偏仪分析软件，可测量各种太阳能电池的薄膜厚度和光学常数，光学带宽等。

产品特点：
■ 连续波长的光源为用户提供了更大的应用空间
■ 更简便快捷的样品准直方法
■ 软件具备丰富的材料数据库
■ 允许用户自定义色散模型，更方便用户研究新材料的光学性质
■ 全波长多角度同时数据拟合，EMA模型用户多成分化合物和表面粗糙度分析
■ 具有实验数据和模拟数据三维绘图功能
■ 光谱范围宽达250 - 1100nm (可扩展至250-1700nm)
■ 功能强大的光谱椭偏测量与分析软件

技术指标：
■ 光源：氙灯
■ 光斑直径：1-3mm
■ 入射角范围：20°到90°,5°/步
■ 波长范围：350-850nm， 250-1100nm， 250-1700nm：0.002°~ 0.02°
■ 波长精度：1nm
■ 测量时间: < 8s （取决于测量模式和粗糙度）
■ 样品尺寸: 125x125mm 156x156mm,200x200mm电池片, 其他尺寸
■ 测量精度：0.02nm
■ 折射率：0.0002, 100nmSiO2 on Si 
■ 厚度测量范围：0.01nm ~ 50um
■ 消光比：10-6
 
可选配：
■ CCD线阵列探测元件：200-850nm，350-1000nm
■ 样品显微镜
■ 高稳定性消色差补偿器
■ 透射测量架
■ XY移动样品台

典型客户：
美国，欧洲，亚洲及国内太阳能及半导体客户。