一、测试原理：

压汞法孔隙度测试分析技术是基于在精确控制的压力下将汞压入孔结构中的方法实现的。除高速、精确及分析范围广等优点外，压汞仪还可得到样品众多特性，例如：孔径分布、总孔体积、总孔比表面积、中值孔径及样品密度（堆积密度和骨架密度）。

孔隙度通常包括材料孔径、孔体积、孔径分布、密度和其他孔隙度相关特性的测量。孔隙度对于了解物质组成、结构和应用是非常重要的。材料的孔隙度影响其物理属性从而影响其在周围环境下的行为，影响材料的吸附性和渗透性、强度、密度和其他性质。

二、性能参数：

1. 孔直径测试范围：30nm至600μm ；

2. 孔隙体积测试范围：0.3-3.5cc ；

3. 测量精度：≤ 0.5% ;

4. 分析站：1个独立样品分析站，样品室*体积15cc ；

5. 工作压力范围：0.01-50Mpa，采用双路压力测量技术 ；

6. 试验压力：60Mpa ；

7. 静压力头: ≤20mmHg ；

8. 空白值: 50Mpa时约0.25ml ；

9. 具有严格的汞安全防护措施，有效避免汞蒸气对室内环境的影响 ；

10. 真空泵：双极机械真空泵，极限真空度0.05Pa ；

11. 分析模型：累计总孔体积、累计比表面积、平均孔径、孔径分布（孔隙度）曲线、孔喉比、注汞/退汞曲线等等；

12. 样品类型：固体颗粒样品或块状固体样品；

三、产品特点：

GCGY200型压汞仪主要由真空系统样品室系统、加压系统、测量控制系统四部分组成。

1. 真空系统：主要是由一台双级泵和真空传感器组成，极限真空度为 0.05Pa；

2. 样品室系统：耐高压、耐真空，空白值小，测量精度高，稳定性强。利用重力差原理，在正压环境下进行压力测量技术，方便、适用，保证了整个试验的连续性、稳定性、可靠性和完整性。

3. 加压系统：可为测试过程提供0-50Mpa（7250psi）压力，可无级调速控制泵速度的快慢及加退压。

4. 测量控制系统：由压力测量、电容测量、真空测量三部分组成。压力测量由两路压力变送器和数字压力表来完成压力的计量。电容测量是由电容仪电容变送器和数字显示器来完成。真空测量是由真空硅利用热偶原理实现对样品室内真空度的测量。

5. 具有严格的汞安全防护措施，有效避免汞蒸气对室内环境的影响 。

接地电极为转动灵活的铜報，直径为100mm,表面粗糙度Ra为0.2卩m,高压电极为导电橡皮,厚度为2mm〜3mm,宽度比试样窄20mm〜30mm。测试仪器中有测长装置（用于计算面积）和击穿点自动计数装置。试样为200mm〜400mm的膜卷，被试面积按产品标准规定。按图12所示安装试样，长度。在试样移动的条件下，在高压和接地电极间施加产品标准规定的电压。启动测试仪，积上的电弱点数。试验结果为测得的电弱点数除以被试面积，以个/n?表示。按JB/T3282—1999的规定。按GB/T的规定进行，具体选用何种方法由产品标准规定。嬌点试验*两种方法，有争议时采用方法A。按IEC1991的规定。

将被试薄膜放在滴有少量硅油的热台上,盖上玻璃圆片，使它在试样支撑下与硅油形成弯液面。用肉眼观察，当试样不再支撑玻璃圆片而使弯液面向前移动时的温度即为被试薄膜的熔点。铉:分析纯，锡:分析纯，硅油：沸点高于被测物体的熔点；弯液面法熔点测定仪:由铝块和加热器组成的加热台，并附有测温元件孔。测温元件紧贴在加热台的规定位置，温控系统具有高、低两档调温功能，其中低档升温速率约为2P/min；3X5放大镜；精密测温元件:测温范围20P〜300°C，分度值为0.5X：；制备试样的工具:如刀片、镶子等。薄膜可切成约2mmX2mm或直径为2mm的小片30片,将总厚度约为0.1mm的薄膜小片叠合在一起作为一个试样，若为*次使用仪器或者更换测温元件

2020新款全自动压汞法测试仪

2020新款全自动压汞法测试仪