2D锡膏厚度测试仪GAM-70（中国台湾*）

功能说明

    2D锡膏厚度测试仪GAM-70为非接触式测厚设备，此乃针对Fine Pitch制程能力的成长、印刷技术的提升及精密度要求下之质量管理设备，且能提供各种SPC统计分析值，进而提升制程能力。

2D锡膏厚度测试仪GAM-70适用范围

    ? 锡道铜箔印刷面。

    ? 各式厚度量测数值：取得分析统计。

2D锡膏厚度测试仪GAM-70系统功能

    ? 手动量测锡膏厚度。

    ? 手动量测锡膏长度、宽度、间距。

    ? 自动计算锡膏面积、截面积、体积。

    ? 量测值可记录存盘及打印。

    ? 可抓取CCD所拍摄图像，并储存图文件。

    ? 自动计算制程能力指标Cp、Cpk、Cpm。

    ? 提供厚度分配图及X-Bar /R-Bar管制图表。

    ? 可同时依不同生产线分别量测作记录。

    ? 可依欲量测基本厚度，快速调整焦距。

    ? 可定时呼叫取样。

2D锡膏厚度测试仪GAM-70系统规格

       ? 可视范围：4.55mm Î3.50mm     ? 放大倍率：x90

       ? 电源供应：计算机提供 

? 外观尺寸：350(L) Î 400(W) Î 290(H)mm

       ? 整体重量：30kg                ? 检查方式：Laser Vision

       ? 台面尺寸：350(W) Î 265(L)mm   ? 量测厚度：0.5mm ~ 0.007mm

     ? 精确度：( -)0.0035mm           ? 分析系统：GAM70(中文接口)

一、  按主画面之打印统计。

二、  输入欲显示图表记录文件名称。

三、  输入报表抬头。

四、  选择厚度分布统计图或X-R管制图。

五、  选择厚度分布统计图

            [打印图形]：打印厚度分布统计图。

            [打印数据表]：打印〝厚度列表〞。

      六、  选择X-R管制图

            [打印图形]：打印X-R管制图。

            [打印数据表]：打印〝单点列表〞。

〈厚度分析统计图〉

 〈X-R管制图〉