SRM 640e(美国NIST)粉末衍射线

SRM 640eSRM 640e(美国NIST)粉末衍射线

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2022-06-04 21:00:04
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产品简介

美国标准与技术研究院(National Institute of Standards and Technology,NIST)直属美国*,从事物理、生物和工程方面的基础和应用研究,以及测量技术和测试方法方面的研究,提供标准、标准参考数据及有关服务,在上享有很高的声誉
SRM 640e(美国NIST)粉末衍射线位置和线型标准(硅粉)旨在用作衍射线位置校准的标准和线形,通过粉末衍射法测定。

详细介绍

本公司专业代理美国NIST标准品,欢迎询价!158-128-17678 陈经理

SRM640e(美国NIST)粉末衍射线位置和线型标准(硅粉)​:

       该标准参考材料(SRM)旨在用作衍射线位置校准的标准和线形,通过粉末衍射法测定。 SRM 640e的一个单元由大约7.5克的硅粉在氩气下装瓶。
       材料描述:SRM是由超高纯度的固有硅晶锭制成,经过粉碎和压碎喷射研磨至中值粒径4.1μm。 然后将所得粉末在吸气氩气下在1000℃下退火两小时[1]并在氩气下装瓶。 X射线粉末衍射数据的分析表明SRM材料在衍射特性方面是均匀的。

        使用2.2kW长密度精细几何形状的密封铜管收集数据它的功率为1.8 kW,45 kV和40 mA。源尺寸约为12毫米×0.04毫米并且可变发散狭缝标称地设定为0.8°。入射光束的轴向发散受到a的限制2.2°Soller狭缝。测角仪半径为217.5毫米。将2mm的防散射狭缝放置在约113mm处在0.2毫米(0.05°)的接收狭缝前面。用石墨后样品过滤散射的X射线单色器,用闪烁检测器计数。在数据收集期间,样品以0.5Hz旋转。该机器位于温度控制的实验室空间内,标称短程控制温度为±0.1K。使用Veriteq SP 2000在数据收集期间记录温度和湿度监测器表明精确到±0.15K。允许源在操作条件下至少平衡记录任何认证数据前一小时。使用该机器的性能是合格的SRM 660b线位置和线形标准粉末衍射[8]和SRM 676a氧化铝粉末使用Cline等人讨论的程序通过X射线衍射[9]进行定量分析。 [3]。

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