详细介绍

塞贝克系数/电阻测量系统ZEM

——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻

产品介绍：

塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点，塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。

产品特点：

♦ 拥有温度控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器；

♦ 测量是由计算机控制的，并且能够在的温度下执行测量，并允许自动测量消除背底电动势；

♦ 欧姆接触自动检测功能（V-I图）；

♦ 可以用适配器来测量薄膜；

♦ 可定制高阻型。

产品结构：

样品腔部分：

工作原理图：

应用方向：

对于半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的热电性能分析。

可选功能：

1. 薄膜测量选件

2.低温选件（温度范围-100℃到200℃）

3.高阻选件（可高达10MΩ）

参数配置：

产品简介