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塞贝克系数/电阻测量系统ZEM
——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻
产品介绍:
塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点,塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。
产品特点:
♦ 拥有温度控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器;
♦ 测量是由计算机控制的,并且能够在的温度下执行测量,并允许自动测量消除背底电动势;
♦ 欧姆接触自动检测功能(V-I图);
♦ 可以用适配器来测量薄膜;
♦ 可定制高阻型。
产品结构:
样品腔部分:
工作原理图:
应用方向:
对于半导体,陶瓷材料,金属材料等多种材料的热电性能分析。
可选功能:
1. 薄膜测量选件
2.低温选件(温度范围-100℃到200℃)
3.高阻选件(可高达10MΩ)
参数配置:
型号 | ZEM-3M8 | ZEM-3M10 |
温度范围 | 50-800℃ | 50-1000℃ |
样品大小 | 方形2-4mm*6-22mmL 或者 圆形φ2-4mm*6-22mmL | |
加热方式 | 红外加热 | |
气氛 | 高纯氦气(99.999%) | |
样品温差 | MAX.50℃ | |
测量方式 | 电脑全自动测量 |
热电材料/器件测试设备