美国Microsense公司生产的大型磁光克尔效应系统是磁盘材料技术和多层磁性薄膜材料研究的有力工具。多年以来，Microsense公司仅专注于精密测量技术的开发和研究。zui终形成了不仅可以适用于实验室做研发的，同时还适用于工业化生产的大型磁光克尔效应测量系统。成为在该领域*的工业产业化的磁光克尔效应系统。根据不同的磁性薄膜和磁盘技术，共有四款磁光克尔效应测量系统，以适合不同的产品研发和生产。

1. 磁电阻随机存储器极向克尔效应测量系统（Polar Kerr for MRAM）         

2. 垂直磁存储材磁盘向克尔效应测量系统（Polar Kerr for PMR Disk）

3. 面内磁存储纵向克尔效应测量系统 （Kerr Mapper）

4. 热辅助写入磁盘磁光克尔效应系统 （Disk Mapper H7）

此外，Microsense公司还研发了世界上的电磁铁系统的振动样品磁强计，平配有扭矩测量，磁电阻测量，变温控制等多种选件