波散型X射线荧光光谱仪XRF-1800特点

•可分析不均匀样品的含量分布、强度分布。
•高次谱线的判定更加准确，提高了定性定量分析的准确度/可靠性。
•利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢（H）元素的信息。高分子薄膜分析中，利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜的信息。
•独自开发的特殊形状的滑动式视野限制光栏，利用r方向滑动与样品旋转控制的q转动，可以在30mm直径内的任意位置进行分析。
•在测定室导入样品的位置上，将样品容器按照与测定位置相同的方式放置，通过CCD摄取样品的图像，可使测定位置与图像相吻合。（申请中）
•配备平均寿命在5年以上的高可靠性Ｘ射线管。与传统的3kWＸ射线管相比，轻元素的分析灵敏度提高2倍以上。
•对应于液体、粉末、固体、金属、氧化物等不同形态的样品具有相应的分析条件，在这基础上可编制*的分析条件。可根据不同材质判定、品种分类、品种判定、*性检索这4种匹配功能进行判定、检索。