X射线光谱有害元素分析仪EDX-9000是一款采用X射线荧光光谱仪器技术用于有害元素分析测试的有害元素测试仪器,可测硫S到铀U元素范围,分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm,它采用极速探测器技术（SDD）可将测试时间降低到1秒,还采用了skyray天瑞仪器产品精密的定位系统,可实现图像联动控制,多点连续测试。

X射线光谱有害元素分析仪EDX-9000特色
快—1秒钟出结果
采用行业的极速探测器技术——（SDD）分辨率低至125eV
优势：探测面积大（面积达25mm2）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好，探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低
采用行业的数字多道技术
优势：有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率可达600KCPS
采用大功率X光管及*的准直滤光系统，激发效率更高
光闸系统优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度
精密的定位系统
超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点
多点测试
2D全自动移动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试
超小样品检测——小可测到0.2毫米
8种准直器、4种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择
准直器小可达0.2毫米，针对超小样品可准确聚焦检测
人性化的设计
更安全：X射线联动安全装置——光闸与联动装置互动；仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷：多点测试，点哪测哪
预约预热：根据设定时间，仪器可定时开始测试
预约开机预热功能：客户可预约仪器开机时间，同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态；同时可以实现预约关机，
关机前可设定声光提示

X射线光谱有害元素分析仪EDX-9000技术参数
测量元素范围 ：硫（S）～铀（U）
测量时间：1s或以上
检出限：分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm
含量范围：2ppm～99.9%
管压：5～50KV
管流：≤1000uA
探测器：SDD探测器，分辨率可达125eV
准直器：8种准直器自动切换
滤光片：4种滤光片自由切换
样品观察：高清工业摄像头
环境湿度：≤70%
环境温度：15℃～30℃
电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）