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高灵敏度薄膜测厚仪是美国进口的超薄薄膜和涂层厚度测量仪器，高灵敏度薄膜测厚仪具有超薄薄膜厚度绘制和涂层厚度绘图功能。
高灵敏度薄膜测厚仪特色
使用革命性的红外反射吸收光谱技术，
能够测量低至单层薄膜的厚度，
它的测量斑点zui小可到3x28mm，
非常适合整个表面的薄膜厚度测量绘制。
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