高校院所实验室冷热冲击试验箱用途及特点

1.适用于国防工业,航空工业、兵工业、大专院校、自动化零组件、汽车部件、电子电器仪表零组件、电工产品、塑胶、化工业、食品业、 BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁制药工业及相关产品等设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验（冲击），冷热冲击试验箱适应于仪器、仪表、电工、电子产品整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组无一不需要它的理想测试工具。

2.产品外形美观、结构合理、工艺*、选材考究，具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。

3.产品分为高温箱低温箱测试箱三部分，采*之断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物*静止，应用冷热风路切换方式将冷，热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。

4.采用*的计测装置, 控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单, 学习容易, 稳定可靠，中、英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。

5.具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟, 循环周期1~999次可设定, 可实现制冷机自动运转，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动﹑停止工作运行。

6.箱体左侧具一直径50mm之测试孔，可供外加电源负载配线测试部件。

7.可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温试验机的功能。

8.具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，*有P.L.C锁定处理，全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高。

9.*科学的空气流通循环设计，使室内温度均匀，避免任何死角完备的安全保护装置，避免了任何可能发生安全隐患，保证设备的*可靠性。

10.可设定循环次数及除霜次数自动（手动） 除霜。

11.出风口于回风口感知器检测控制，风门机构切换时间为5秒内完成，冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。

12.运转中状态显示及曲线显示发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法。

13.冷冻系统采用复迭高效低温回路系统设计，冷冻机组采用欧美*压缩机，并采用对臭氧系数为零的绿色环保（HFC）制冷剂R404A，R23。

设备执行与满足标准

1.制造标准GB/T10586-2006及GB/T10592-1989。

2.检定标准GB/T5170.2-1996;GB/T5170.5-1996。

3.GB2423.1-2008（IEC68-2-1）试验A：低温试验方法。

4.GB2423.2-2008（IEC68-2-2）试验B：高温试验方法。

5.GB/T2423.22-2008 试验N：温度变化试验方法。

6.GJ8150.3A-2009(MIL-STD-810D)高温试验方法。

7.GJ8150.4A-2009(MIL-STD-810D)低温试验方法。

8.GJB/150.5-2009温度冲击试验。

高校院所实验室冷热冲击试验箱技术参数

1.冲击温度范围：-20℃～+150℃；-40℃～+150℃；-55℃～+150℃；-65℃～+150℃。

2.高温槽温度上限：+170℃。

3.低温槽温度下限：-70℃。

4.温度偏差：±2℃。

5.温度波动度：±0.5℃。

6.温度恢复时间：5min。

7.温度恢复条件：高温150℃曝露30min低温-20℃曝露30min；高温150℃曝露30min低温-40℃曝露30min；高温150℃曝露30min低温-55℃曝露30min；高温150℃曝露30min低温-65℃曝露30min。

8.试品转移方式：采用气动。

9.冷却方式：风冷或水冷。

10.试品重量：≤3kg。

11.高温室升温时间：30min （+25℃～+170℃）。

12.低温室降温时间：65min （+25℃～-55℃）。

13.噪音：（dB）≤65。

14.使用电源：AC380V±10%，50/60Hz。

15.设备型号及规格选择如下：

  型号         内箱尺寸（mm）     外箱尺寸（mm）

ZK-TS-50L      W400×H350×D350     W1250×H1570×D1320

ZK-TS-80L      W400×H500×D400     W1350×H1500×D1470

ZK-TS-150L     W600×H500×D500     W1550×H1600×D1920

ZK-TS-250L     W600×H600×D700     W1650×H1700×D2170

可根据需求定制非标。。。。。。