XP-系列分析天平

XP-系列分析天平

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具体成交价以合同协议为准
2022-05-16 17:00:03
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南京大卫仪器设备有限公司

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产品简介

产品名称:XP-系列分析天平
主要特点:本产品采用后置式传感器,彩色触摸屏,水平控制系统,红外感应器,全自动校准技术。

详细介绍

产品名称:XP-系列分析天平

品牌:METTLER TOLEDO

产品特点:

♦高对比度的彩色触摸屏,红外感应器,网格秤盘,水平控制系统,8个用户界面全金属机架,外形美观,使用方便。

♦采用高精度高分辨率后置式传感器,满足用户高精度的称量要求

♦天平校准功能,自动提示用户使用外置砝码校准/校准天平,确保称量的结果始终准确

♦*可拆卸,可清洗的玻璃防风罩设计,持久保持洁净

♦优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求

♦丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量。

技术参数:

型号 zui大称量值(g) 可读性(mg) 重复性sd(mg) 线性误差(mg) 典型稳定时间(s) 秤盘尺寸(W*D) mm
XP105DR 31 / 120 0.01 /0.1 0.015 / 0.06 0.15 1.5 78×73
XP205 220 0.01 0.03 0.1 2.5 78×73
XP205DR 81 /220 0.01 /0.1 0.015 / 0.06 0.15 1.5 78×73
XP204 220 0.1 0.07 0.2 1.5 78×73
XP504 520 0.1 0.12 0.4 1.5 78×73
XP504DR 101 /520 0.1 / 1 0.1 / 0.6 0.5 1.5 78×73

DR =变量程  sd=标准偏差

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