热处理双色红外测温仪XCIT-6H1*

热处理双色红外测温仪XCIT-6H1*

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-05-16 10:10:03
11
产品属性
关闭
北京天威科仪科技有限公司

北京天威科仪科技有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

热处理双色红外测温仪XCIT-6H1*, 0.8-1.1μm(锻造焊管 热处理 化工) ,采用双色测温方法,即通过目标物体辐射的两个红外波段的能量比值来确定被测物体的温度。因测量结果取决于两个波段辐射功率之比,所以,辐射能量的部分损失对测量结果没有影响。可克服传输介质有灰尘、烟雾、水汽,视场局部遮挡和测量距离变化造成的辐射能量衰减而引起的测量误差,特别适用于相对恶劣的测温环境。

详细介绍

热处理双色红外测温仪XCIT-6H1*产品说明:
XCIT比色测温仪:采用双色测温方法,即通过目标物体辐射的两个红外波段的能量比值来确定被测物体的温度。因测量结果取决于两个波段辐射功率之比,所以,辐射能量的部分损失对测量结果没有影响。可克服传输介质有灰尘、烟雾、水汽,视场局部遮挡和测量距离变化造成的辐射能量衰减而引起的测量误差,特别适用于相对恶劣的测温环境。 
金属热加工过程中,金属表面不可避免会快速氧化形成氧化层,氧化层会随温度变化脱落或者皴裂(例如轧钢生产线),皴裂氧化皮和金属本体形成间隙,使得氧化层的温度低于金属本体温度。双色测温仪可以很好的克服因此引起的测量误差。使得生产工艺数据可靠且离散性小,便于工艺分析。 
比色测温对于真空或保护气体加热系统也具有优势,可以克服玻璃窗口材料引起的测量误差,让测量值更接近真值。 
XCIT比色测温仪具有目视瞄准系统,非常方便用户安装及实时查看测温仪是否对准目标。对于密封环境的测量系统,目视瞄准还可以作为炉内工况的观察窗口。 
XCIT比色测温仪具有丰富的功能,实时高亮温度测量值显示,用户可选测量方式,测量模式,测温速度,输出规格设置。*客户各种现场使用需求。人机交互简单,方便。 
单色温度计在使用过程中,会遇到以下几种原因引起的测量误差:1、材料氧化表面状态发生改变,或者氧化物和原始材料开裂而引起较大的测量误差。2、材料本身发射率较低而引起的测量误差。3、测量环境恶劣(粉尘,烟雾,水蒸气等)而引起的测量误差。4、测量孔径不能*测温仪的视场需求而引起的测量误差。 
热处理双色红外测温仪XCIT-6H1*基本参数: 
测量温度范围及响应波长:  
XCIT-6H1   600-1400℃     0.8-1.1μm(锻造焊管 热处理 化工) 
XCIT-6H2   800-1800℃     0.4-1.1μm(轧钢钛合金材料 耐火材料生产) 
XCIT-6H3   1000-3000℃    0.4-1.1μm(钨钼材料真空设备 科研试验) 
测量精度:±0.75%FS 
重复精度:0.2% 
分 辨 率:0.5℃ 
响应时间:<15ms 
光学参数: 
透镜类型:双胶合透镜 
探 测 器: SI 
测量距离:0.56m-∞ 
距离系数:280:1 
可测zui小目标:2mm 
电气参数: 
供电电源:24VDC(±20%,500mA) 
模拟输出:0-5V /0-20mA /4-20mA 
数字输出:RS485(选配) 
功    耗:<1.2W 
绝缘电压:≤500VAC 
负载能力:≤300Ω 
操作参数及执行标准: 
环境温度:<60℃ 
相对湿度:10-95%,无冷凝25-45℃ 
物理尺寸:Φ58×183mm 
重    量:0.8kg 
机械冲击:GB/T2423.8-1995 
热 冲 击:GB/T2423.1,GB/T2423.2 
抗干扰标准:JB/T9233.11-1999 

 

1.一年质保,终身维护。
2.在质保期内,除人为因素外,任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、故障我们免费修理或更换。
3.接到用户通知所提供的仪器出现故障后,十分钟内回应。
4.保证及时向用户以*惠的价格提供所需的备品备件和易损件 

上一篇:一台好的MIKRON黑体炉,怎么能不了解这些参数指标呢? 下一篇:YK-11系列智能单通道显示调节仪的使用
提示

请选择您要拨打的电话: