石英晶体监测仪   

  在测量薄膜沉积速率和膜层厚度中，INFICON新型的Q-podTM传感器是一种外观小巧，成本低廉，测量准确的解决方案。它的安装和操作都异常简便，只需将Q-pod测量仪一端通过BNC电缆接连到QCM传感器探头，另一端，用标准的USB接口连接到个人电脑即可，不需要另接振荡器或者电源。然后，安装上我们免费提供的Q-pod软件就开始工作了。Q-pod软件可以显示沉积速率，膜厚，频率，晶片的使用寿命以及沉积速率和镀膜时间的相对曲线图，可同时监测8路Q-pod信号。Q-pod的读数可以被记录到电脑硬盘的数据表中，读数间以逗号分隔，方便随时查询。

标准Q-pod系统配置： -pod监测盒\\传感器探头\\1英寸螺栓型法兰\\晶振片，10片

石英晶体监测仪

产品特点：

◆ 更小的体积，更低的花费，拥有传统QCM一样的性能

◆ 通过USB接口，可直接连接到电脑的，支持同时连接8个Q-pod监测仪

◆ 基于Windows窗口的软件，包括操作及数据记录

◆ 重量小于2盎司（1盎司=28.35g）,可轻松放入上衣口袋中 

Q-POD—软件：

右边对话框所显示的就是软件的主设置和操作界面，包含了Q-pod的连接。该软件可同时支持8个Q-pod连接到个人电脑上，每个Q-pod需要一个USB接口。 

Q-POD—简单的QCM系统： 

右边的系统结构图显示的是典型的薄膜沉积系统。

一个完整的Q-pod系统包括：Q-pod监测盒、传感器探头、连接法兰和一台电脑。

性能参数

定货信息