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霍尔效应测试仪主要用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、导电类型等重要参数,而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的,因此霍尔效应测试仪是理解和研究半导体材料电学特性*的工具。
产品组成:
1、 主机系统
恒电流源+范德堡(Van der Pauw)方法终端转换系统
2、 0.51特斯拉磁体包(型号:AMP51)
- 0.51特斯拉永磁体
- 磷铜样品固定板
- 样品固定板嵌入式加热器
- 液氮槽
- 温度传感器
样品变温、固定部分组成 - 圆形液氮槽 - 样品固定板 - 温度传感器 - 嵌入式加热器 - 磁体盖 - 电缆 | AMP磁体Kit俯视图 - 磁体移动马达控制 - 圆形液氮槽 - 磁体盖 - 电缆 |
3、 常温测量弹簧夹具样品板及常温测量磁体盖板 RTSK-5000 (选配)
4、 变温霍尔效应测量软件
HMS-5000变温霍尔效应测量仪软件主界面
不同温度I-V/I-R曲线 载流子浓度随温度变化曲线
迁移率随温度变化曲线 电阻率随温度变化曲线
霍尔系数随温度变化曲线 电导率随温度变化曲线
产品规格:
1、 主要实验参数
输入电流:1nA ~ 20mA;
电阻率:10exp(-5) ~ 10exp7Ω.cm;
载流子浓度:10exp7 ~ 10exp21 cm-3;
迁移率:1 ~ 10exp7 cm2/Volt.sec;
磁场强度:0.51T;
样品测量板:弹簧样品板;
样品尺寸:5mmX5mm ~ 20mmX20mm;
温度范围:80K-350K;
磁体包尺寸:700×220×280 mm (W×H×D) / 15.5Kg;
2、 软件操作环境
XP / VISTA / Win7 / Win8 / Win10环境下
3、 实验结果
- 体载流子浓度、表面载流子浓度;
- 迁移率;
- 霍尔系数;
- 电阻率、方块电阻;
- 磁致电阻;
- 电阻的纵横比率;
4、 仪器尺寸和重量
主机尺寸:440×420×140 mm (W×H×D) / 8.5Kg;
5、 测量材料
Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, TCO(including ITO), AlZnO, FeCdTe, ZnO等所有半导体薄膜(P型和N型);