半导体型低温脆性测定仪

半导体型低温脆性测定仪

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2022-05-11 10:20:02
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扬州赛驰检测设备有限公司

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产品简介

半导体型低温脆性测定仪是测定硫化橡胶在规定条件下试样受冲击出现破坏时的高温度,即为脆性温度。

详细介绍

半导体型低温脆性测定仪

一、用途:

XCY-6040型橡胶低温脆性测定仪是测定硫化橡胶在规定条件下试样受冲击出现破坏时的高温度,即为脆性温度。可以对非硬质塑料及其他弹性材料在低温条件下的使用性能作比较性鉴定。可以测定不同橡胶材料或不同配方的硫化橡胶的脆性温度和低温性能的优劣。因此无论在科学研究材料及其制品的质量检验。生产过程的控制等方面均是*的。本仪器是根据GB/T1682-94标准设计的,各项技术指标符合标准的要求。

二、半导体型低温脆性测定仪技术参数:

2.1试验温度:-60℃—0℃

2.2冲击速度:2m/s±0.2m/s

2.3恒温后,试验3min时间内温度波动:<±1℃

2.4冲击器中心到夹持器下端距离:11±0.5mm

2.5外型尺寸:720×700×1300mm

2.6功率:1100w

2.7冷井容积:700ml

2.8电源:220V

三、结构原理:

3.1升降夹持器

升降夹持器由带有夹持器的气缸和气缸座组成

从试样受冲击部位,到夹持器下端的距离为11.0±0.5mm

3.2冲击装置

冲击装置由冲击器和冲击气缸组成

3.3冲击器

冲击器头部形状和尺寸符合GB1682标准规定。冲击器的重量为200±20g,其工作行程为40±1mm。冲击气缸在复位状态下,冲击器端部到试样的距离为25±1mm。

3.4冷冻介质

通常使用工业乙醇

3.5本测定仪器采用半导体制冷。

四、使用方法:

4.1接通电源,温控仪和计时器显示灯亮。

4.2向冷井中注入冷冻介质(一般为工业乙醇),其注入量应保证夹持器的下端到液面的距离为75±10mm。

4.3将试样垂直夹在夹持器上。夹的不宜过紧或过松,以防止试样变形或脱落。

4.4达到试验温度后,按下启动按钮,试验机自动工作(按下夹持器,开始冷冻试样,同时启动时序控制开关或按动秒表计时。试样冷冻时间规定为3.0±0.5min。试样冷冻期间,冷冻介质温度波动不得超过±1℃)

4.5取下试样,将试样按冲击方向弯曲成180°,仔细观察有无破坏。

4.6试样经冲击后(每个试样只准冲击一次),如出现破坏时,应提高冷冻介质的温度,否则降低其温度,继续进行试验。

4.7温度调节方法:a、按set键,温控仪进入设置状态

b、按“<”键移动到要设置的位置

c、按“∧”键调整温度

d、按“set”键确定

通过反复试验,确定至少有两个试样不破坏的低温度和至少一个试样破坏的高温度,如这两个结果相差不大于1℃时,即试验结束。

五、试验标准:

5.1规格

试样的长为25.0±0.5mm,宽为6.0±0.5mm,厚为2.0±0.3mm。5.2要求

试样的表面应光滑,无外来杂质及损伤。成品应经打磨后裁制成相应尺寸。

六、注意事项:

6.1在试验过程中不能切断冷却循环,否则会产生不制冷的效果。

6.2气缸压力在出厂前已调节好,不能任意变动。

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