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LZ-200J统计打印手提型膜厚测量仪
品牌:日本Kett
LZ-200J统计打印手提型膜厚测量仪兼备电磁式与涡电流式功能,而且是内藏打印机的便携式膜厚计。可迅速对应磁性金属上及非磁性金属上的各式各样被膜厚度之测量。
具备统计计算功能,按下操作键即可求出平均值、标准偏差、zui大值、zui小值。
校正、记忆功能、上下限设定功能等。
规格:
测量方式 | 涡磁两用式 |
测量对象 | 磁性金属上非磁性被膜及非磁性金属上绝缘被膜 |
测量范围 | 磁:0~1500μm;涡:0~800μm |
测量精度 | 磁:15μm以下±0.3μm;15μm以上±2%;涡:50μm以下±1μm;50μm以上±3% |
分辨率 | 100μm以下:0.1μm;100μm以上:1μm |
显示方式 | LCD数位荧幕显示61(D)x29(H)mm |
zui小测量面积 | 5x5mm |
校正记忆功能 | 8组,任何时间开机不需重新校正 |
界限值功能 | 可任意设定上、下限判别功能,超过范围时以音响警示 |
资料记忆数 | 3000点 |
统计功能 | 测量次数、平均值、zui大值、zui小值、标准差值 |
测量功能 | 单点测试、连续扫瞄测试,可测试膜厚分布变化 |
打印机 | 24 character内藏感热式打印机,自动统计记录,纸宽58mm |
电 源 | AC110V/60Hz或主机单3号电池x6,打印机单3电池x4 |
尺 寸 | 120(W)x250(D)x55(H)mm |
重 量 | 约1.1kg |
测量方式 | 内藏测头单点测试 |
测量单位 | 公、英制可任意切换(μm/mils) |
附 属 品 | 铁素材、校正用标准片、电池、携带套、操作说明书、曲面固定器、测头、AC插头 |
株式会社ケツト科学研究所
Kett Electric Laboratory
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