日本理学株式会社波长色散X射线荧光光谱仪ZSX Primus IVi是基于ZSX Primus IV中研发的新硬件和软件技术，这是一种下照式X射线荧光光谱分析仪。 只需将液体样品倒入覆盖有样品膜的样品池中，就可以轻松地对其进行测量。 此外，只需将测量面朝下放置在样品架上，即可轻松测量盘状合金，电镀板和玻璃板等样品。 对于难以加压成型的颗粒状样品，小体积样品，小尺寸碎片等，将它们直接放置在样品池的膜上并进行测量，测量贵重样品无需进行样品处理加工。 可以在使用高分辨率相机观察样本图像的同时执行分析位置和进行映射测量。

轻松共享应用程序

通过在上照式ZSX Primus IV和下照式的ZSX Primus IVi之间共享通用的硬件和软件平台，可以轻松地在两个模型和相同模型之间共享应用程序。

具有高级自动判断功能的SQX分析

SQX分析是利用定性分析结果进行定量分析的折叠式FP分析。

1、评估重元素产生的高阶线的影响，自动选择较好测量条件，实现更准确的SQX分析

2、EZ扫描追加检测微量元素的定角测定设定模式

3、EZ扫描配置测定时间2分钟以内的超高速模式

4、对应多层膜样品的筛选分析

5、可将任何样品膜添加到样品膜校正

6、SQX散射射线FP分析（适用于粉末/聚合物）也支持30mm直径

7、在SQX再计算时可以变更为SQX散射线FP分析

快速替代氦气

通过在样品室和分光镜室之间增加一个真空隔板，可以减少用氦气置换所需的时间。 另外，通过追加液体样品架检测机构，可以放心地在真空气氛中导入液体样品。

轻型元件的气体保护比例计数器S-PC LE

使用气体保护探测器进行分析时无气体排放。 无需为检测器安装气瓶。

使用WDX系统进行点/映射分析

r-θ驱动的样品台可在不映射100μm位置分辨率的情况下根据测量点改变X射线强度，从而能够分析印刷电路板上的布线并分析微小的零件，例如各种材料的夹杂物等微部分析。

欢迎咨询日本理学株式会社波长色散X射线荧光光谱仪