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泰克参数分析仪
大胆发现从未如此容易。 4200A-SCS 参数分析仪可将检定和测试设置的复杂程度降低高达 50%，提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。 另外，嵌入式测量专业知识（业界）可提供测试指南并让您对结果充满信心。
特点
4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同，四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。
特点
简单地说，4200A-SCS 可以*自定义且全面升级，您可以对半导体设备、新材料、有源/无源组件、晶片级可靠性、故障分析、电化学或几乎任何类型的样本执行电气检定和评估。
特点
4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。
特点
吉时利保障计划以按需服务事件的一小部分成本提供快速、高质量的服务。 只需点击一下或一个电话即可获得维修服务，在此过程中，无需报价或填写采购单，也不会有审批延误。
了解详情
| 产品技术资料 | 型号 | 说明 | 价格 |
|---|---|---|---|
| 查看规格书 | 4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件 | 210V/100mA，0.1 fA 分辨率 对于两端和三端设备，MOSFET、CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK1 包括：
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| 查看规格书 | 4200A-SCS-PK2 高分辨率 IV 和 CV 套件 | 210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 对于高 K 电解质，深亚微米 CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK2 包括：
| 索取报价 |
| 查看规格书 | 4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 | 210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 对于功率设备、高 K 电解质，深亚微米 CMOS 设备检定套件 4200A-SCS-PK3 包括：
| 索取报价 |
| 查看规格书 | 4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 | 用于使用* CMOS 技术套件进行复杂的 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 包括：
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