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泰克BERTScope 误码率测试仪较快实现 Gen4 *性。
自动化您的设备针对 Gen3 和 Gen4 标准(如 PCIe、SAS、USB3.1 和高达 32 Gb/s 的其他标准)的*性测试。 我们完善的解决方案可让您轻松对标准中的大量测试用例进行准确且可重复的测量。
全新 BSX 系列可提供行业内复杂位错误分析程序,以捕获和存储每个错误的上下文(时序和位位置)。 执行与错误相关的快速根本原因分析并提供可操作见解,您无需费神和担忧。
观察设备对环回和链路调训测试用例的响应。 凭借用户可配置握手协议和内置 4 抽头均衡器支持的*性测试,您可以毫不费力地将 DUT 设为环回模式,或完成链路调训流程。
型号 | 通道 | 大数据速率 | 排序器状态/电平 | 在线购买 | 价格 |
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BSX125 | 1 | 12.5 Gb/s | 128/2 | - | 配置与报价 |
BSX240 | 1 | 24 Gb/s | 128/2 | - | 配置与报价 |
BSX320 | 1 | 32 Gb/s | 128/2 | - | 配置与报价 |
* 价格:价格如有变更,恕不另行通知。
泰克BERTScope 误码率测试仪
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