19501-K/19500 Series-局部放电测试仪-苏州鲁仪测控技术有限公司手机版

产品简介

局部放电测试仪结合高电压耐压测试与局部放电（Partial Discharge）侦测功能于一单机，提供交流电压输出大10kV，漏电流量测范围从0.01uA~300uA，局部放电侦测范围小可侦测1pC放电量，针对高压半导体元件及高绝缘材料测试应用所开发。

详细介绍

局部放电测试仪

主要特色：

Chroma 19501-K 局部放电测试器结合高电压耐压测试与局部放电(Partial Discharge)侦测功能于一单机，提供交流电压输出大10kV，漏电流量测范围从0.01uA~300uA，局部放电侦测范围小可侦测1pC放电量，针对高压半导体元件及高绝缘材料测试应用所开发。产品设计符合IEC 60270-1与IEC60747-5-5法规要求，同时内建IEC 60747-5-5法规之测试方法在仪器内部，满足光耦合器产品生产测试需求，并提供给使用者一个便利操作介面.

局部放电测试仪

在生产线上执行高压测试时，如果被测物未能正确及良好连接测试线，将导致测试结果失败甚至是漏测的风险。因此，在测试前确保被测物与测试线良好连接是非常重要的。 Chroma *之HVCC高压接触检查功能(High Voltage Contact Check)，利用Kelvin测试方法针对高绝缘能力之元件于高压输出时同步进行接触检查，提升其测试可靠度与效率。

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