Chroma 3112 晶片测试分类机-长沙艾克赛普仪器设备有限公司手机版

产品简介

Chroma 3112 晶片测试分类机其高效率的模组化设计与精准的机构传动结构可确保在高速运作下减少Jam Rate的量产要求，多重检查功能装置可降低待测物发生异常的损坏。

详细介绍

Chroma 3112 晶片测试分类机其高效率的模组化设计与精准的机构传动结构可确保在高速运作下减少Jam Rate的量产要求，多重检查功能装置可降低待测物发生异常的损坏。

晶片测试运用此自动化测试分类技术不仅能提升生产效率、减少人力需求，同时也增加了测试稳定度及测试良率。此外，其简洁的机台设计更可节省机台于测试厂之占地面积，帮助客户大幅降低生产成本。

Chroma 3112 晶片测试分类机的特色：

高信赖度之PnP自动化测试分类机
x4 多盘置入自动测试分类
(X/Y/Z/θ) 可调式探针座模组
测式座产品堆迭检测
x12 输出分类盘可程式设定输出类别
全程即时良率显示与控制
全程探针接触状态显示 (选配)

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