Chroma 3650-EX SoC/Aanlog测试系统在设计其架构时，应用* 的规划，具备AD/DA转换器测试模组、ALPG记 忆体测试模组、高电压PE输出模组和多重扫描 链测试模组、类比测试模组等等选配，以确保 符合未来多年的测试需求。另Chroma 3650-EX具 有MRX(Mixed-Signal and Rf boX)模组，可实现从 设计端至量产端使用同一PXI平台已减少因硬体 不同所造成的测试误差。它的软体测试环境CRI SP(Chroma Integr a ted Software Plat form)，是一个结合工程开发与量 产需求的软体平台。主要包含四个部份 : 执行控 制模组、资料分析模组、程式除错模组以及测 试机台管理模组。透过亲切的图形人机介面的 设计，CRISP提供多样化的开发与除错工具，包 含:Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor与Plan Debugger 等软体 模组，可满足研发/测试工程师开发程式时的需 求 ; 此外，Histogram tool 可用于重复任一测试 参数，包含时序、电压、电流等，以评估其测试 流程之稳定度。

Chroma 3650-EX SoC/Aanlog测试系统特色：

• 50/100MHz测试工作频率
• 1024个 I/O 通道(I/O Channel)
• 32M (64M Max.) Pattern 记忆体 (Pattern Memory)
• Per-Pin 弹性资源架构
• 512 DUTS 平行测试功能
• 96个电源通道
• 硬体规则模式产生器 (Algorithmic Pattern Generator)
• BIST/DFT扫描链(Scan Chain)测试模组选项
• 好学易用的 WINDOWS 7作业环境
• 每片 VI45 类比单板可支援8~32通道
• 每片 PVI100 类比单板可支援2~8通道
• 每片 HDADDA 混合讯号单板可支援32通道
• 弹性化的 MS C/C++ 程式语言
• 即时pattern编辑器，含Fail pin/address显示
• 测试程式/测试pattern转换软体(J750-EX)
• 多样化测试分析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool,Histogram tool 等
• 实惠的SoC和消费性混合信号晶片产品测试方案