X射线光谱测厚仪*产品描述，技术参数和配置。
设备简介
X射线光谱测厚仪Thick800A是天瑞集团多年研发的一款电镀工业仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测点，以及移动平台。作为一台功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在电镀行业可谓举足轻重。

工作特性。
能满足不同厚度样品及不规则表面样品的检测要求。
直径为0.1mm的小孔准直仪能够满足微小测试点的要求。
移动平台的高精度定位和重复定位精度不超过0.005mm，可以做精确定位试验。
利用高度定位激光，对测试高度自动定位。
用定位激光器定位光斑，确保测试点与光斑一致。
滑鼠控制移动平台，滑鼠点击的位置即为被测点。
高分辨探针使分析结果更精确。
光线屏蔽效果好；
高灵敏度试验传感器保护装置。
技术性指标
模型：Thick800A。
从硫(S)到铀(U)都有元素分析。
可同时分析30多种元素，镀有五层。
测定含量通常在ppm至99.9%。
X射线光谱仪的镀层厚度一般在50μm以内(每种材料不同)
有多种可选的分析与识别模式。
互不相关的基体效应修正模型
多元非线性收集器。
该温度范围为15~30℃。
电力供应：交流220V±5V，建议配有交流净化稳定电源。
外形尺寸：576(W)×495(D)×545(H)mm。
X射线光谱测厚仪样箱尺寸：500(W)×350(D)×140(H)毫米。
体重：90千克。
标准化配置
开放的试样室。
高精度二维移动采样平台，探测器和X光管上下移动实现三维移动。
双重激光定位设备。
铅质玻璃罩
锡-潘探测器。
讯号探测电子电路
高、低压电源
X-光管
高感应器
防护传感器
电脑和喷墨打印机。
适用范围。
检验金、铂、银及其他贵金属及各种首饰。
测量金属镀层厚度，测定镀液及镀层含量。
X射线光谱测厚仪*主要应用于贵金属加工及珠宝加工行业、银行、珠宝销售及检测机构、电镀行业。
手表镀层测厚光谱仪由天瑞仪器现货销售手表镀层测厚光谱仪,XTD系列测厚仪*表面处理检测解决方案,XTD系列测厚仪，于检测各种异形件，特别是五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。