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4D Inspe4D InSpec 便携式表面缺陷测量仪 表面检测 粗糙度检测
产品介绍4DInSpec采用动态偏振结构光原理，非接触式测量表面缺陷，如划痕、凹坑、磨损、凸起、麻点、腐蚀、激光打标深度、铆钉齐平度等，以及热处理后表面质量如镀银、阳极氧化等，具有高精度、高重复性特点 参考价面议 -
NanoCam HD4D NanoCam 动态光学轮廓仪 大口径光学元件表面测量
产品介绍NanoCamHD采用相移干涉技术（PSI），精度可达0.1nm；沿用4D技术公司的相位相关探测器的瞬时相移技术，可在振动环境下测量大口径光学元件表面粗糙度 参考价面议 -
快速3D轮廓测量仪
CUBE系统是专门为车间的品控设计的，针对抛光、模压和金刚石车削的光学元件的快速检验，包括红外材料和金属。这个系统的另一个优势是能在单个测量序列中完成多个较小的透镜或透镜阵列的测量。 参考价面议 -
NanoCam HD 动态光学轮廓仪
NanoCam HD采用相移干涉技术（PSI），精度可达0.1nm；沿用4D技术公司的相位相关探测器的瞬时相移技术，可在振动环境下测量大口径光学元件表面粗糙度。NanoCam HD克服了传统粗糙度仪速度慢、使用复杂的缺点，其便携和抗振动的特性使NanoCam 在多种复杂工作场景——生产现场、龙门机器人、抛光设备旁、放置在大口径光学元件表面，都能进行高精度测量；可挂在机械手上对被测元件进行任意方位的...... 参考价面议 -
离子束刻蚀系统 Mill 150 德国scia Systems
简介sciaMill150适用于在多种材料复杂多层膜上的微结构刻蚀 参考价面议 -
大口径离子束抛光刻蚀机 Finish 1500 德国scia Systems
简介SciaFinish1500离子束抛光机用于高精度光学元件的表面抛光 参考价面议 -
离子束抛光刻蚀机 Trim 200 德国scia Systems
简介sciaTrim200用于晶圆或光学元件的高精度表面离子束修整或抛光，而不受薄膜和材料的限制 参考价面议 -
化学气相沉积与反应离子刻蚀系统 PECVD/RIE
简介sciaCube750用于样品尺寸为750mmx750mm的大面积镀膜和刻蚀 参考价面议