无锡冠亚射流式高低温冲击测试机

给芯片、模块、集成电路板、电子元器件等提供快速的环境温度。

是对产品电性能测试、失效分析、可靠性评估*的仪器设备。

广泛应用于半导体企业、航空航天、光通讯、高校、研究所等领域。

高低温冲击系统测试仪工作原理

高低温冲击系统测试仪工作原理

　　【适用范围】

　　无锡冠亚AES系列高低温冲击系统测试仪适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB 电路板IC、光通讯（如收发器 transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等）、电子行业等进行IC 特性分析、高低温循环测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。

　　【工作原理】

　　1、高低温冲击系统测试仪试验机输出气流罩将被测试品罩住，形成一个较密闭空间的测试腔，试验机输出的高温或低温气流，使被测试品表面温度发生剧烈变化，从而完成相应的高低温冲击试验；

　　2、可针对众多元器件中的某一单个IC或其它元件，将其隔离出来单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件，与传统冷热冲击试验箱相比，温变变化冲击速率更快。

　　【选购要点】

　　选购冷热冲击试验箱要注意五个方面：冲击温度、试验负载、复归时间、除霜时间、放置位置。

　　冲击温度：是指测试区实际能够跑到的温度 范围。注意不是预热和预冷室的温度；

　　试验负载：直接影响能够放置多少测试品。一般说来，这个重量越大越好；

　　复归时间：它是指测试品全部从一个温度点切换到另外一个温度点所耗费的时间；

　　除霜间隔时间越长越好。现在有些厂家能够做到1000cycles除霜一次，是非常适合的。除霜间隔越短说明该设备的气密性越差；

sensor必须放置在测试区内部。有些厂家将sensor放置在风道内部，虽然与测试区只有10cm的距离，但是这个能量差异是相当大的。且不能够真实反映测试品表面的温度变化。