利用NexION 2000 ICP-MS的高灵敏度测定10 nm Au纳米颗粒的粒径和数量
时间：2020-12-31 阅读：268
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珀金埃尔默企业管理（上海）有限公司 -
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为了检测到尺寸小于20nm的纳米颗粒，SP-ICP-MS方法必须具备高灵敏度、快速数据采集速率（<75μs驻留时间）和低本底等特点。另外，具有自动阈值检测和实时本底扣除功能的数据处理软件也是至关重要的。我们在本次工作中发现，搭载了*射频发生器和离子透镜技术的珀金埃尔默公司NexION®2000ICP-MS配合Syngistix™纳米应用软件模块可以准确地测量单一粒径或混合粒径纳米颗粒样品中粒径小于和等于10nm的纳米颗粒并对其进行表征。