一、产品介绍：

GYB-300型引伸计检定仪是一种纯机械式的高精度位移测微仪器。依据JJG762—2007引伸计检定规程要求，专门用于对各类引伸计的标定，可进行0.5级引伸计的标定，也广泛用于位移传感器的检定及相应百分表、千分表的标定。

二、产品特点：

1、GYB-300引伸计检定仪由精密微分测头及测量支架组成。该标定器是积木式结构设计。将精密微分测头及支臂以多种方式或位置组合，同时配有加长立柱附件，配有圆柱、板、刀片等多种形式的分离试样，可以方便地进行多种规格型号引伸计的计量标定。用户还可以根据自己的测试特殊需要，配置配件进行精密微变形量计量。

2、精密微分测头由滑动量杆、量杆套筒、读数内筒、读数外简及高精密螺纹付组成。其大量程25mm；小分度(游标分度)0.0002mm；旋转外筒分度0.002mm。

位移变化读数为：
L=（a+0.001b+0.0001c）-(a0+0.001b0+0.001c0)
其中：a－内筒毫米刻线读数
b－外筒刻线读数
c－游标刻线读数
a0 b0 c0　为相应位移变化前读数

三、技术指标：

1、测量引伸计标距范围L max        500mm （≥250mm需另配加长杆费用另付）

2、测量支座上支臂安装孔径         φ10；φ28

3、微分测头读数内筒轴向刻度       0.5mm／格

4、微分测头读数内筒游标刻度       0.0002mm／格

5、微分测头读数外筒园周刻度       0.002mm／格

6、高精密微分测头精度指标：      量程0.5mm以内≤0.5μm  （误差）量程0.5mm以上≤0.10%  （逐点相对误差）

四、参考标准：

JJF1096-2002 引伸计标定器校准规范
ISO9513:1999 金属材料单轴试验用引伸计标定
JJG762-1992 引伸计检定规程