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(1)、可对C(6)-Fm(100) (次ppm—100%)进行无损分析；
(2)、高达400W的X-射线管，采用WAG(广角结构)技术设计，zui大限度地满足实验室各类需求；
(3)、配备8个可定制滤波器和8个二次靶，可快速、准确地对微量及痕量元素进行检测分析；
(4)、标准配置硅漂移探测器(SDD)，高计数率、高分辨率，适于高和低原子序数元素分析；
(5)、针对轻元素分析检测，可选配薄聚合物视窗的SDD LE探测器；
(6)、集成电脑，专业的nEXt™软件包，易于操作。
二、二次靶激发技术介绍
二次靶激发技术能zui大程度的去除散射背景，提高信噪比，降低检测器的检测限。如图，样品为含少量Cr，Mn，Fe杂质的Ni合金。当直接激发时(绿)，杂质元素的吸收信号被Ni元素的吸收信号淹没；相反，使用Ni二次靶激发时，杂质元素的吸收信号被大大加强。
三、主要技术参数
系统规格 | EX-6600 | X-7600 |
测量范围 | C(6)- Fm(100) | |
测量浓度 | 次 ppm —100% | |
X-射线管靶材 | Rh靶 | |
X-光管电压/功率 | 60kV, 300W | 60kV, 400W |
激发类型 | 直接激发和二次靶激发 | |
探测器 | 硅漂移探测器(SDD)，无需液氮 | |
分辨率(FWHM) | 在5.9 keV时，129 eV ± 5eV | |
视窗 | 铍窗 | |
自动进样器 | 10位 | |
工作环境 | 空气/真空/氦气 | |
管滤光片 | 8款软件可选 | |
二次靶 | 8款 | |
样品室尺寸 | 28cm(D), 5cm(H) | |
主机尺寸(cm) | 85(L)*85(W)*105(H) | |
主机重量 | 170 kg | 220kg |
操作软件 | nEXt™分析包(包含基础基本参数法) | |
报告 | 用户自定义数据打印输出 | |
选配件 | 20位自动进样器、样品旋转器、专业基本参数法、真空泵、氦气净化器、超级SDD (分辨率123eV ± 5eV) | |
三、代表性用户
印度原子能研究中心---环境监测与评估部门
印度艺术学院---物理系
硅漂移探测器(SDD)，其超低的电子噪音和超高计数率，与Si-Pin探测器相比，有更高的能量分辨率及更快地检测速度。
EX-6600&X-7600模型中的8个二次靶和EX-3600中的一个二次靶能快速、精确定量分析样品，即使是复杂的样品，如合金、塑料盒地质样品。定制的靶材以次ppm的检出限。
这个多功能的实验室光谱仪可以分析液体、固体、泥浆、粉末、颗粒和空气过滤器，其样品仓可以容纳不同形状，不同尺寸的样品。
10-位自动进样器的便于样品的自动加载，节省人力。
这个快速、精确、易于使用的光谱仪有坚固的硬件和强大的分析软件，以达到zui低检出限。
多道采集分辨率为探测器反映提供更*的峰值/原始值比。
主要应用
二次靶激发
绿色的光谱说明Ni 合金中含有99.8%的Ni和少量杂质的Cr,Mn和Fe。用直接激发的方式，这些元素被Ni 元素的信号吸收掉了。采用Ni作为二次靶（红色光 谱），Ni 并没有那么明显，但是Fe,Mn,Cr的激发效率就大大提高，如图中这些元素的峰值响应所示。
