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(1)、可对F(9)-Fm(100)(次ppm~100%)进行无损定性、定量分析；
(2)、6款管滤光片，更快更精确的测定微量及痕量元素；
(3)、可配置硅漂移探测器SDD (分辨率为129eV)，适于高和低原子序数的元素分析检测；
(4)、外型坚固耐用，适于移动实验室，符合冲击试验MIL810E规格；
(5)、配备集成电脑、专业nEXt™分析软件，操作方便；
二、主要技术参数
系统规格 | PD 版本 | SDD 版本 |
测量范围 | Na(11) - Fm(100) | F(9) - Fm(100) |
测量浓度 | ppm -100% | 次 ppm -100% |
X-射线管靶材 | Rh靶 (Ag/Mo/W/Pd靶) | |
X-射线管电压/功率 | 35 kV, 9W | 40 kV, 18 W |
激发类型 | 直接激发，管滤光片 | |
探测器 | 电制冷PIN二极管 | 硅漂移探测器SDD |
分辨率(FWHM) | 155 eV ± 10 eV | 129 eV ± 5eV |
自动进样器 | 8位 | |
工作环境 | 空气/真空/氦气 | |
管滤光片 | 6款软件可选 | |
操作软件 | nEXt™分析包(包含基础基本参数法)，Microsoft Windows™ OS操作系统。 | |
报告 | 用户自定义数据打印输出 | |
选配件 | 16位自动进样器、专业基本参数法、氦气净化器、CCD摄像头等 | |
三、应用领域
石油化工、冶金/合金样品
环境、石油/燃料/柴油等、医药生物化学等
矿产地质(含稀土元素)、贵金属检测、法鉴
