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一、介电常数介质损耗测试仪的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。

二、介电常数介质损耗测试仪主要技术特性：

Q 值测量范围:       2 ～ 1023,量程分档：30100﹑300﹑1000，自动换档或手动换档

固有误差:≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）

工作误差:≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）

电感测量范围:       4.5nH ～ 140mH

电容直接测量范围:   1 ～ 200pF

主电容调节范围:     18 ～ 220pF

主电容调节准确度:   100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 ％

信号源频率覆盖范围:  100kHz ～ 160MHz

频率分段 （ 虚拟 ）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz

频率指示误差        :3 × 10 -5 ± 1 个字

三、介电常数介质损耗测试仪夹具工作特性

1.平板电容器：

极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm   可选

极片间距可调范围：≥15mm

2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm

3. 夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

4．测微杆分辨率：0.001mm

四、介电常数介质损耗测试仪配置：

主机一台

电感九支

夹具一套

随机文件一套