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LAP-W2000湿法全自动激光粒度分析仪

产品名称：LAP-W2000湿法激光粒度分析仪

技术标准：ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008

测试范围: 0.1um～1250um 0.1um～2000um

探测单元：86、96

激光类型:进口光纤半导体激光器

首先感谢您对LAP-W2000湿法智能全自动激光粒度分析仪的关注！

LAP-W2000是我公司倾力研发的产品，自上市以来赢得了广大客户的*。LAP-W2000采用*的Mie氏散射原理和会聚光傅立叶变换光路。高密度探头及全量程无缝衔接测试方法，保证了测试结果的准确性和重复性。*的湿法循环分散系统，保证颗粒测试过程中无颗粒沉积现象，测试排水后无废液积存现象，保证了第二次测试精度，使测试结果更真实可靠；同时采取了管道无残留设计，保证了测试不同样品的准确性。*的光路自动校对系统彰显出LAP-W2000*优势。湿法激光粒度分析仪

LAP-W2000激光粒度分析仪主要性能特点：

*的光路设计：LAP-W2000采用会聚光傅立叶变换测试技术保证在zui短的焦距获得zui大量程，有效提高仪器的分辨能力；*的高密度探测单元，让LAP-W2000拥有了*的小颗粒测试能力，高密度探测单元使LAP-W2000具有*的全量程无缝测试能力，高配版采用了双光路设计。

进口光纤半导体激光器：LAP-W2000采用了高稳定、长寿命的进口大功率光纤输出半导体激光器，优良的单色性及稳定性让LAP-W2000拥有了*的测试重复性。湿法激光粒度分析仪

激光器功率监测及自动调整：*采用了恒功率激光器，实时对激光功率进行检测并自动调整功能，有效避免*使用造成的激光功率衰减的问题。同时采用了恒流恒压高滤波激光电源有效延长了激光器寿命，正常使用达3万小时以上。

防尘、防震设计：仪器整体进行了密封设计，大幅提高了内部元器件使用寿命。*的悬浮式结构能有效避免外界震动对仪器的干扰，使结果测试更稳定可靠。

自动对中：*采用机械中心与光学中心相结合技术，光路自动调整定位更，达到微米级别；同时光路调整速度个更快捷zui快15秒即可完成调整。自行研制的自动对中系统包括步进电机、精密导轨、精密控制器以及软件系统组成，zui小步距0.2微米，保证激光束焦点始终从探测器中心点穿过，提高测试结果的准确性以及测试的重复性。自动对中系统是易仕特所有型号激光粒度仪的标准配置。

智能全自动操作模式：软件实现一键式操作，自动进水、自动进样、自动测试、自动清洗，整个测试过程实现一键式全自动操作，使用方便快捷。

*微量循环系统：整个分散循环系统进行了优化设计，分散介质大于180毫升即可循环测试，真正达到了微量循环测试；所有接头采用了速插快拧设计，短时间内即可更换全部管道；优化的设计保证排水后无废夜残留，保证了下一次测试结果的准确性。

超宽量程：LAP-W2000量程达到了0. 1μm～2000μm或0.01μm～2000μm。

超声防干烧：LAP-W2000配备了100W大功率超声，同时具有超声防干烧功能。

误操作保护：LAP-W2000具有自我保护功能，对一些会损害仪器的误操作不响应，大大降低了因人为误操作造成的损坏。

露点测量：样品窗结雾会影响测量的准确性，这样的测试结果没有实际意义，LAP-W2000加装了有雾点测量系统，一旦起雾软件会自动提示（选装）。

免排气泡设计：全新的设计使整个测试过程不会有气泡进入测试样品窗，避免了气泡干扰（免排气泡功能技术我们*拥有）。

样品无残留设计：仪器管道及排水结构进行了优化设计，仪器管道、循环泵内无积液残留，避免对下一次测试数据的影响；干法测试同样进行了无残留设计。

样品窗快换装置：全新设计的样品窗快换装置，使样品窗更换更方便快捷（20秒钟即可完成样品窗的拆装过程）。

稳定性及重复性达到国外仪器标准

主要技术参数：