天瑞仪器RoHS测试仪可用于海关、、第三方测试机构等专业测试机构QA检验,电子通信、文体设备、纺织品、皮革、食品、家用电器等制造业的QC,IQC、IPQC、QA检验。
【ROHS检测仪】是一种检测ROHS的检测仪,原理是利用X射线检测ROHS标准规定中的元素的含量。目前市场上常见的类型是X射线荧光分析仪,又分为能量色散型和波长色散型,能量色散型因其技术原理及结构比波长色散型简单,现市场上比较常见。
分析原理:
ROHS检测仪就是【X射线荧光光谱仪】,其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,通过测定角度,即可获得待测元素的谱线波长:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角,利用上式可以计算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特征信息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,通过测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特征射线能量:
Q=KE
式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比,故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用一定的样品制备技术,并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
技术原理:
放射性同位素源或X射线发生器放出的X射线或Γ射线与样品中元素的原子相互作用,逐出原子内层电子。当外层电子补充内层电子时,会放射该原子所固有能量的X射线--特征X射线。
不同元素特征X射线能量各不相同,依此进行定性分析;再根据特征X射线强度线强度大小,可进行定量分析。
可用函数关系式表示为:
C=f(k1I1, k2I2, k3I3...)
式中:Kn(n=1,2,3…)表示第n号元素的待定系数;In(n=1,2,3…)表示第n号元素释放的特征X射线强度,由此可知只要通过标定确定系数Kn之后便可进行物质中元素的定量分析了。
技术参数:
元素分析范围:钠(Na)-铀(U)
元素含量分析范围为1 PPm-99.99%
工作稳定性:总荧光强度为0.1%
测量时间:60-200秒
温度适应范围:15℃-30℃
电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)
可同时分析36种元素
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