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德国施克SICK位移测量传感器概览：

OL1 光学测微计因其微型结构而备受青睐，即使机器间距极小仍具有充足的安装空间。凭借 LED 校准辅助装置与集成在 AOD1 评价单元中的光带校准功能，可轻而易举地安装和校准发射与接收单元。OL1 传感器在高度的纠偏控制方面优势，例如针对电池生产中电极材料的重复导引或者用于薄晶片的双张检测。由于储备功率高，OL1 测定半透明材料的边缘位置或将薄织线或金属丝可靠导回至正确轨迹。

●微型金属外壳

●集成式 LED 校准辅助装置

●高分辨率的 CMOS 接收器具备高重复精度

●通过 AOD1 评价单元可选用各种不同接口

●测量边缘位置或直径

●通过 AOD1 评价单元自定义配置设置与计算功能

德国施克SICK OL1系列位移测量传感器优势：

实现微米级检测

凭借 10 mm 光带宽度和高重复精度，OL1 光学测微计成为满足有限空间中高性能要求的理想选择。无论是极为细小的物体、织线还是卷幅材料：激光级别为 1 的传感器均可实现微米级精度的厚度测量和定位，从而确保可靠的流程控制。

可靠检测小至 0.2 mm 的物体

由于重复精度高达微米级，材料导引高度

发射器与接收器的间距可达 300 mm，使用灵活

高性能稳定性：OL1 测量材料厚度和边缘位置，重复精度高达微米级。

用途广泛，尺寸紧凑

OL1 的宽度仅为 9.6 mm，可以灵活地集成至空间有限的设备中。借助设备上的 LED 对准辅助装置轻松对准光带。传感器也可选择通过评价单元 AOD1 由外部便捷配置。由此确保光学测微计在多种生产环境中的快速调试。

 坚固的微型金属外壳

紧凑的传感器设计允许在狭窄的安装空间中使用

通过显示屏参数设置和 LED 对准辅助装置直观对准

应用

●电池电极边缘导引

●织线或金属丝的直径与位置检查

●晶片处理时的双张检测

●半透明薄膜导引

●电机组件中的通孔测量

●压延工艺中薄膜或织物卷幅材料的厚度测量

详情请见：施克SICK位移测量传感器