详情

《X射线荧光光谱分析法测定元素含量》团标征求意见

来源：仪表网2022/5/1 11:59:28111

导读

按照宁夏化学分析测试协会团体标准工作程序，标准起草组已完成《氢氧化铝快速测定-X射线荧光光谱分析(压片)法测定元素含量》团体标准征求意见稿的编制工作。现按照宁夏化学分析测试协会《团体标准制修订程序》要求，公开征求意见。

　　本文件按照 GB/T 1.1-2020 《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》规定编写。本文件由宁夏盈氟金和科技有限公司提出。本文件起草单位：宁夏盈氟金和科技有限公司、宁夏鑫悦洋科技有限公司、宁夏计量质量检验检测研究院、宁夏化学学会。

　　本标准参考：GB/T 4294-2010 氢氧化铝；GB/T 6609.22 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法取样；GB/T 6609.23 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法试样的制备和贮存；GB/T 8170 数值修约规则与极限数值的表示和判定；YS/T 534 氢氧化铝化学分析方法等文件编制而成。

　　本标准规定了 X 射线荧光光谱分析(压片)法测定氢氧化铝中铝、钠、硅、铁、钾(分别以 Al、Na、SiO2、Fe2O3、K0 表示)等元素的方法。本标准适用于氢氧化铝生产、加工、使用等下游企业。

　　仪器设备：

　　1.波长色散X射线荧光光谱仪。2.振动磨及碳化钨磨盘：磨盘以能研磨30g 左右的试样为宜。3.压片机及模具：压制厚度至少4mm，压力在35t左右，模具内径应和X荧光仪样品杯相匹配。

　　试样片的制备：

　　1. 混合与研磨：称取约 10 g 干燥试样放入碳化铐磨盘中，并用振动磨研磨至 45um 以下。2.压片：将适量的试样倒入模具，以硼酸農边，用压片机加压至 35 t，并保持 30 s，取出样片进行修边后，用吸耳球吹去附着粉样，然后在 X 荧光仪上进行测量。测量时，只能拿样片边缘，以避免测量面的玷污。

　　校正：

　　1.背景校正：对于常量元素可选择测量一个或两个营景。2.仪器漂移校正：通过测量监控样品校正仪器漂移。3.标准曲线的绘制：选择氢氧化铝标准样品，分析标准样品中各元素的 X 射线强度，绘制标准曲线，每个元素都应有一个具有足够含量范围又有一定梯度的标准系列。制备过程按5.2 进行。

　　测定：

　　1.将X射线荧光光谱仪预热使其稳定，根据X射线管型号调节管电压和管电流。根据X射线荧光光谱仪的型号选定工作参数。

　　2.测量监控样品：设置监控样品名称，测量监控样品中分析元素的 X 射线强度。监控样品中分析元素的参考强度应与标准样品在同一次开机中测量，以保证漂移校正的有效性。

　　3.测量未知样品：启动定量分析程序，测量监控样品，进行仪器漂移校正。测量与未知样品同批制备标准样品。输入未知样品名，测量未知样品。

　　质程保证与控制：

　　应用标准样品或监控样品，使用时至少每三个月校核一次本方法标准的有效性。当过程失控时，应找出原因，纠正错误后，重新进行校核。

　　原标题：《X射线荧光光谱分析法测定元素含量》团标征求意见

上一篇：赛道持续升温！2022年4月机器人领域投融资一览

下一篇：预计2022年智能手机的半导体收入将增长15.2%

版权与免责声明：凡本网注明“来源：兴旺宝”的所有作品，均为浙江兴旺宝明通网络有限公司-兴旺宝合法拥有版权或有权使用的作品，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用上述作品。已经本网授权使用作品的，应在授权范围内使用，并注明“来源：兴旺宝”。违反上述声明者，本网将追究其相关法律责任。本网转载并注明自其它来源（非兴旺宝）的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或和对其真实性负责，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品第一来源，并自负版权等法律责任。如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系，否则视为放弃相关权利。

展开全部

热门评论