随着数字化，智能化进程加速，海量的数据需要存储和备份，然而存储容量大小计量标准不一，测量目前还没有统一的标准，
存储设备的性能测试技术规范缺失，市场上很多是基于开源软件工具进行测量，没有明确的测试技术标准。
用户在采购设备和服务时没有参考标准，仅能依仗厂商自行标注的数值，而且在使用过程中存在很多参数与厂商实际标注不一致情况，给用户使用上带来很多困惑和问题。
中国计量科学研究院牵头，联合存储厂商、测试仪器厂商，科研机构等起存储容量和性能测试技术规范标准，共同定义微存储设备关键性技术参数指标和相关测试方法，以此为基础开发测试工具进行验证，为客户提供客观，可验证的性能数据，并在一些行业内进行推广应用。
存储容量和性能测试技术规范规定了存储容量和性能测试技术规范的术语和定义、存储容量测试要求和存储性能测试要求，适用于物理存储设备(如智能盘(框)、存储阵列等)和抽象存储设备(如逻辑卷等)的存储容量和性能的测试，并且也适用于第三方对存储设备提供者作为对其存储容量和性能符合性的认证依据。
其中，测试步骤有9个方面注意事项，具体包括：
1.保证测试系统链路通信正常；
2.根据被测设备的标称可得容量创建相同大小的块设备(如被测设备标称可得容量为 100TB，则创建 1 个 100TB 的块设备)，将创建的块设备映射到主机；
3.查看主机是否完成块设备映射；
4.根据设置数据集类别的占比、IO 流大小等参数；
5.针对每种数据类型，先执行创建写，再执行 10 分钟的覆盖写；
6.测试被测存储设备的可得容量、IOPS 和带宽；
7.验证被测设备可得容量是否满足技术要求；
8.验证被测设备的 IOPS 是否满足技术要求；
9.验证被测设备的带宽是否满足技术要求。
存储容量和性能测试技术规范着眼于存储的根本属性容量，结合存储实际应用业务场景，对存储性能进行准确评估。从根本上解决存储设备各类容量概念多，使用复杂/混乱，利于用户进行容量规划和采购的问题。