TR200手持式粗糙度仪是时代集团公司开发的又一个新品，该仪器适用于生产现场，可测量多种机加工零件的表面粗糙度:平面、曲面、小孔、沟槽等不规则表面。根据选定的测量条件计算机相应的参数，在液晶显示器上清晰地显示全部测量结果及图形,并可在打印机上输出，亦可与PC机进行通讯。

测量原理：当测量工件表面粗糙度时，将传感器放在工件被测表面上，由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表面做等速滑行，传感器通过内置的锐利触针感受被测表面的粗糙度，此时工件被测表面的粗糙度引起触针产生位移，该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化，从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例　模拟信号，该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统，DSP芯片将采集的数据进行数字滤波和参数计算，测量结果在液晶屏上显示，并可在打印机上输出，亦可与PC机进行通讯。

仪器特点
　　高精度电感传感器；符合ISO（），DIN（德国），ANSI（美国），JIS（日本）标准
　　可测量显示13个粗糙度参数；
　　采用DSP（数字信号处理器）进行数据处理和控制，速度快，功耗低；
　　机电一体化设计，体积小，重量轻，使用方便；
　　高品质锂离子充电电池，容量高，无记忆效应，连续工作大于20小时；
　　连接时代TA系列打印机，可以打印测量参数及轮廓；
　　标准RS232接口，可与PC机通讯；
　　可选配曲面传感器测量凹凸面，小孔传感器测量内孔粗糙度；
　　流行的菜单操作方式；
　　具有图形显示功能；
　　传感器触针位置指示；
　　带存储功能的自动关机；
　　多语言工作方式选择；

图左上角为主机连接测量平台测量工件状态；

图右上角为主机连微型打印机测量工件状态；

图左下角为主机几种传感器TS100/120/110； 

图右下角为主机立体顶部显示屏、操作按键；

     测量参数：Ra、Rz、Ry、Rq、Rp、Rm、Rt、R3z、Rmax、Sk、S、Sm、tp；
　　测量范围：Ra：0.025μm～12.5μm；
　　显示范围：Rz、 R3z、 Ry、Rt、Rp、Rmax、：0.02μm～160μm；
                           Sm、S：1mm；
　　                   tp：1～*（%Ry）；
　　取样长度L：0.25mm, 0.8mm, 2.5mm；
　　评定长度Ln：1L～5L（可选）；
　　测量行程长度：3L～7L（可选）；
　　示值误差：≤±10%；
　　示值变动性：< 6%；
　　传感器类型：电感传感器；
　　针尖角度：90°；
　　针尖半径：5μm；
　　针尖材料：金刚石；
　　zui高分辨力：0.001μm；
　　可测量zui小孔径：2mm；
　　可测量曲面zui小曲率半径：3mm；
　　滤波器：RC、PC-RC、GAUSS、D-P；
　　标准：符合ISO/DIN/JIS/ANSI；
　　轮廓曲线：滤波轮廓、不滤波轮廓和tp曲线；
　　显示：128×64点阵液晶（带背光），可显示全部参数及图形；
　　数据输出：标准RS232接口，可连接PC机和打印机；
　　打印轮廓放大比：Vv：200x～20000x Vh：20x、50x、200x；
　　电池容量：10000mAh（大于3000次测量）；
　　充电电压：220V，50Hz；
　　工作温度：5～40℃；
　　主机外形尺寸：141mm×56mm×48mm；
　　主机重量：440克。

主机配标准传感器TS100后的便携测量状态

标准配置：（常用配置）
　　TR200主机,TS100标准传感器,多刻线标准样板,电源适配（220V，50Hz）,护套,支架,改锥,使用说明书,合格证书,保修卡，手提密码箱
　

其它可选附件：

传感器主要技术参数
TS100标准传感器;（可测量平面、圆轴；测量孔内表面时，孔直径大于5mm，zui深22mm，直径大于10mm时，zui深66mm）  ；   

TS110曲面传感器;（可测量曲率半径大于3mm的凸凹面工件的表面，配合TA620平台使用） ；

TS120小孔传感器;（可测量平面、圆轴；测量孔内表面时，孔直径大于2mm，zui深9mm,直径大于10mm时，zui深66mm）  ；        

TS131深槽传感器 ;（可测量平面、圆轴；可测量槽宽大于3mm，槽深小于10mm，或高度小于10mm的台阶的表面粗糙度）  ；  

TS130沟槽传感器;（可测量平面、圆轴；可测量槽宽大于2mm，槽深小于3mm，或高度小于3mm的台阶的表面粗糙度） ；

TA620测量平台 TA610测量平台  TA630微调平台     TA631微调平台
TA220s打印机　TA210打印机     磁性表座连接轴 PC软件（DataViewforTR200）  延长杆     侧向转接杆   连接体部件

可选的传感器类型（用于特殊表面的测量时选用）

微调平台TA630、支架测量平台TA620（用于微小复杂工件的定位测量时选用）