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406D静电衰减测试仪采用直流充电法,是符合美国军标方法4046的一套完整的材料静电特性测试系统。该设备是符合美军标MIL-PRF-81705D规范用于检测材料是否合格的标准设备。406D符合美国无纺布静电衰减测试标准IST 40.2(01)、美国联邦标准FED-STD-101C(Method 4046)、美国军标MIL-B-81705C、中国GB 19082,中国军标GJB2625。
406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的测试;金属夹具可以测试较厚的块状物、发泡物或其他形状和质地的材料。选配IC管型夹具可以无损测试IC芯片包装管;选配806B无损测试电极可以直接放置在试样上,还可以测试粉体和液体静电衰减时间。
配套法拉第测试笼提供一个屏蔽空间,试样放置在法拉第笼内进行测试,法拉第笼通过配套连接线连接406D主机。法拉第笼具有互锁装置,打开法拉第笼时,高压电源输出被切断。
STM-2验证模块提供一个标准的电阻,电容直接采取系统电容。通过测试STM-2标准模块可以验证是否正常。
位于法拉第笼内的静电压探测头可以卸下,放置在806B无损电极上后,可以直接测试粉体、液体和固体试样。
符合标准:美国无纺布静电衰减测试标准IST 40.2(01),
美国联邦标准FED-STD-101C(Method 4046),
美国军标MIL-B-81705C,
美军标MIL-PRF-81705D,
中国GB 19082,
中国军标GJB2625