荧光X线膜厚计采用中文视窗操作测量系统
解析度0.001μm
小测量面积0.1mmφ
荧光X线膜厚计可测量合金层之厚度和组成比例
荧光X线膜厚计可测量两层以上镀层之个别厚度
籍由光谱分析可判定被测物之元素
适用对象：IC导线架、封装业、PCB业、精密零件业、电镀业、电子业。

"韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能*,而且价钱*.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,饰,端子等行业的选.可测量各类金属层、合金层厚度."主要技术参数：
可测元素范围：
钛(Ti) – 铀(U)
可测量厚度范围：
原子序 22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射线管：油冷,超微细对焦
高压：0-50KV(程控)
荧光X线膜厚计准直器：
固定种类大小：可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm自动种类大小：可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm电脑系统：IBM相容,17”显示器
综合性能：镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析镀层分析：可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析：可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析：可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能：可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
荧光X线膜厚计统计功能：能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.