荧光膜厚计

ts-80荧光膜厚计

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-01-04 18:54:00
1728
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广东艾思荔检测仪器有限公司

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产品简介

荧光膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

详细介绍

荧光膜厚计特点：


中文视窗操作测量系统
解析度0．001um， 小测量面积0．1mmΦ
可测量合金层之厚度和组成比例
可测量两层以上镀层之个别厚度
藉由光谱分析可判定被测物之元素
适用对象：1C导线架，封装业、PCB业、精密零
件业、电镀业、电子业。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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