ts-80荧光膜厚计
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广东艾思荔检测仪器有限公司
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荧光膜厚计特点:
中文视窗操作测量系统解析度0.001um, 小测量面积0.1mmΦ可测量合金层之厚度和组成比例可测量两层以上镀层之个别厚度藉由光谱分析可判定被测物之元素适用对象:1C导线架,封装业、PCB业、精密零件业、电镀业、电子业。
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