电子产品老化试验室性能参数：

温度范围：RT~80℃，高温可按用户要求做到120℃

控制精度：±0.5℃

温度波动度：±2.0℃

温度均匀度：≤2.0℃

升温时间：每分钟约3.0℃

设备型号：BY-260LF-容积

电源：AC380V±10%，50Hz

本设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域产品的老化试验。

外形美观，施工方便，施工周期短。

房间设定温度范围广，连续可调。在常温+5℃－60℃(常温+5℃－85℃)范围内可任意设定。若客户特别要求，可设计更高温度产品。

控制系统电气控制部分：配置功能控制电柜一个，老化所需时间、温度、各类操作开关可在控制柜上操作，为确保*运转的可靠性，本设备均采用已经多年使用，质量可靠的进口法国“施奈德"交流接触器、空气开关、按钮、小型继电器等国内外品牌。测温体为PT100温度传感器。

温度控制准确，精度高。由于采用了*的风道系统设计及电控系统，能保持整个房间温度高度均匀性，大大高于同类产品。

加热装置：不锈钢翅片加热管，安装方便，易于维修和更换。

多叶片涡轮风扇、耐高温风机。加快工作室内的温度平衡时间，改善室内的温度均匀性。

试验室设有独立的循环风道，在风道内增加龙骨结构，形成稳固的风道骨架，循环风机合理的分布在风道内，安装在牢固的马达架上。有效保证试验室内的空气循环和温度均匀。

在风道内设有*的传感报警装置，当风道内壁温度过高、循环风机过热时会发出报警信号并自动切断电源。

设备主要部件选用国内外品牌厂家的优质产品，确保整机的质量和性能。

电子产品老化试验室按照客户的要求设计外观（整体式或拼装式），室体容积从1立方200立方不等可以制作。该设备用于各类电子元器件在高温热环境下的性能检测。