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探测-由于采用了无导头探测系统,所以可移动测量所有常见的粗糙度、波纹度和原始轮廓特性参数; 定位自动-配置了电动测头系统,所以测头可自动在工件表面定位和提起; 测量灵活-内置蓄电池,所以使用时不需外接电源,尽显移动测量的灵活性; 信息广泛-可显示特性参数,微观轮廓图形、支撑率曲线和统计数据; 操作简单-通过配置上下文提示功能键的触摸屏,操作简单; 记录方便-集成了打印机,可及时记录测量结果文件,方便简单; 测量可靠-通过内置标准粗糙度标准块,可及时检测测量仪,保证了测量的可靠性。 | |
Waveline™20给进单元,用于粗糙度和波纹度的精密测量 集成启动按钮,可单手操作; 配置高精密导轨,可对直线度和波纹度进行精密测量; 具有不同测量速度; 可测量所有位置(还可仰测); 无导头型测头范围广,可针对不同应用情况。 | |
测头自动下沉 测头在工件表面自动定位并自动调整所选的测量范围; 测量结束时测头自动抬起,可在换工件时免受损坏。 | |
通过触摸屏完成上下文提示操作 8个测量程序; 针对4个基本功能的功能键; 可评价所有常见的粗糙度、波纹度和原始轮廓特性参数; 公差评估的可能性广; 通过触摸屏快速且舒适输入其他数据; 清晰显示测量结果:特性参数、轮廓线图形、交互支撑率曲线、广泛的统计功能。 | |
Waveline™20测量站 能使移动式W20变成完整的固定式测量站; 带T型槽的石板规格400X280mm; 高度可调范围300mm; 回转装置的回转范围:±45°; 可选配测量平台和其他附件。 |