德国PHYNIX Surfix E-N统计型涂层测厚仪-深圳市欧亚精密仪器有限公司手机版

德国PHYNIX Surfix E-N统计型涂层测厚仪

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2023-09-27 14:25:24: 17

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德国PHYNIX Surfix E-N统计型涂层测厚仪配备非铁基N1.5探头采用电涡流测量原理可测量有色金属基材上涂镀层，Surfix E-N统计型涂层测厚仪具有统计功能（测量次数、平均值、标准偏差、小值、大值）

详细介绍

德国PHYNIX Surfix E-N统计型涂层测厚仪配备非铁基N1.5探头采用电涡流测量原理可测量有色金属基材上涂镀层，Surfix E-N统计型涂层测厚仪具有统计功能（测量次数、平均值、标准偏差、小值、大值）

规格参数

测量原理	电涡流
测量范围	0~1500μm
精度	± (1µm+1%测量值)
分辨率	0.1μm或＜0.2%测量值
显示	背光，4为字母数字，高度10mm（0.4英寸）
校准方法	出厂校准，零点校准，薄膜校准漂移功能：正负一个常数值
统计	测量次数、平均值、标准偏差、小值、大值
数据存储	2*100个测量值
接口	红外/电线
工作温度	0℃~60℃
表面温度	-15℃~60℃
规格尺寸	137mm66mm23mm
探头规格	∅14mm*83mm
重量	205g，含探头和电池
防护等级	IP 52（防尘和滴水）
标准	DIN, ISO, ASTM, BS

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