PTG-3550-涂层测厚仪-北京时代浩方科技有限公司手机版

产品简介

Phase II PTG-3550涂层测厚仪可以利用涡流和电磁感应两种不同的方法进行厚度测量。
用此*的厚度测量仪，利用其一个内置探头或我们提供的一个自动探测的外接探头，您可以方便的测量磁性基体(金属)上非磁性涂层的厚度或非磁性导电基体(非金属)上非导电涂层的厚度。

详细介绍

简捷涂层厚度测量!

无损测量，极其精确!
Phase II PTG-3550涂层测厚仪可以利用涡流和电磁感应两种不同的方法进行厚度测量。
用此*的厚度测量仪，利用其一个内置探头或我们提供的一个自动探测的外接探头，您可以方便的测量磁性基体（金属）上非磁性涂层的厚度或非磁性导电基体（非金属）上非导电涂层的厚度。

Phase II PTG-3550可被用于很多行业领域包括制造业，通用机械工业，商检等。

主要技术信息
测量范围:0-1250µ mzui大

分辨率: 0.1µ m（0-99µ m）或1µ m （大于 100µ m）

精确度: 一点校准后: +/- 1-3%n 或 2µ m
显示屏:4位

zui小测量范围: 5mm x 5mm

zui小曲率半径: 3mm

凹深:30mm

zui小基体厚度:金属: 0.5mm

非金属: 50 µ m

校准:零点校准

箔校准

被测物体zui大表面温度:150℃（zui长接触时间为2秒）

电源:4节AA电池

外形尺寸: 161 x 69 x 32mm

重量:260g

PTG-3550使用了一个内置探头可以自动测量金属或非金属基体并且带有2个标准基体（钢,铝），4个校准过的厚度试片，手提箱，电池和操作手册。